法布里珀羅特諧振器檢測摘要:法布里珀羅特諧振器(Fabry-PérotResonator)的檢測需聚焦其結(jié)構(gòu)參數(shù)與光學(xué)性能的精確測量,包括反射面平整度、腔長穩(wěn)定性、透射譜特性及材料熱膨脹系數(shù)等核心指標(biāo)。專業(yè)檢測需結(jié)合高精度光譜分析、干涉測量及環(huán)境模擬技術(shù),確保諧振器在激光系統(tǒng)、傳感器及光學(xué)通信等領(lǐng)域的功能可靠性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.反射面反射率:波長范圍400-1600nm,反射率≥99.8%(@1550nm)
2.自由光譜范圍(FSR):測量精度0.01GHz(1-100GHz頻段)
3.精細度(Finesse):計算值F>100(基于半高寬與FSR比值)
4.透射譜半高寬(FWHM):分辨率≤0.05nm(C波段測試)
5.腔長穩(wěn)定性:溫度循環(huán)-40℃~85℃,漂移量≤0.1nm
1.光學(xué)薄膜涂層諧振器:多層介質(zhì)膜/金屬膜復(fù)合結(jié)構(gòu)
2.半導(dǎo)體材料諧振腔:GaAs/InP基微納加工器件
3.光纖型FPI:光纖布拉格光柵(FBG)集成器件
4.MEMS可調(diào)諧諧振器:靜電/熱驅(qū)動式微鏡系統(tǒng)
5.高溫超導(dǎo)薄膜諧振器:YBa2Cu3O7-x薄膜器件
1.ISO13142:2015《光學(xué)與光子學(xué)-激光器與激光相關(guān)設(shè)備-法布里珀羅干涉儀測試方法》
2.ASTME903-12《使用積分球法測定材料太陽吸收比的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》
3.GB/T26332.3-2022《光學(xué)薄膜元件環(huán)境試驗方法第3部分:濕熱試驗》
4.ISO10110-5:2015《光學(xué)和光子學(xué)-光學(xué)元件制圖要求第5部分:表面形狀公差》
5.GB/T13747.22-2019《激光器和激光相關(guān)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)第22部分:激光諧振腔測試方法》
1.ZygoVerifireMST干涉儀:波長632.8nm,PV值測量精度λ/200
2.KeysightN5227BPNA微波網(wǎng)絡(luò)分析儀:頻率范圍10MHz-67GHz,動態(tài)范圍123dB
3.BrukerContourElite掃描電子顯微鏡:分辨率1nm@15kV,腔體形貌分析
4.AgilentCary7000紫外可見近紅外分光光度計:波長范圍175-3300nm,帶寬0.05nm
5.Newport1918-R光功率計/能量計:波長范圍200-1800nm,功率測量精度0.25%
6.ThorlabsSA210-5B掃描FP干涉儀:自由光譜范圍1-10GHz,精細度≥200
7.EspecPL-3KPH溫度沖擊試驗箱:溫變速率15℃/min,溫度范圍-70℃~180℃
8.MitutoyoCrysta-ApexS1166坐標(biāo)測量機:空間分辨率0.01μm,三維尺寸測量
9.HoribaLabRAMHREvolution顯微拉曼光譜儀:空間分辨率<1μm,應(yīng)力分布測試
10.VeecoDektakXT臺階儀:垂直分辨率0.1,膜厚均勻性分析
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析法布里珀羅特諧振器檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28