參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 氟化鏑純度測定：主成分DyF?含量≥99.9%（質(zhì)量分數(shù)），采用差減法計算總雜質(zhì)含量

2. 雜質(zhì)元素分析：Al、Fe、Ca等14種金屬雜質(zhì)≤100ppm（μg/g），非金屬雜質(zhì)O、N≤500ppm

3. 晶體結構表征：XRD分析六方晶系（空間群P6?/mmc），晶胞參數(shù)a=3.95?±0.02?，c=6.82?±0.03?

4. 熱穩(wěn)定性測試：TG-DSC聯(lián)用測定分解溫度≥1200℃，熔融溫度1362℃±5℃

5. 粒度分布檢測：激光衍射法測定D50=5-20μm（可調(diào)工藝），比表面積1-5m2/g

檢測范圍

1. 高純氟化鏑靶材（純度≥99.99%）：用于真空鍍膜制備紅外光學元件

2. 核反應堆控制棒材料：DyF?-Al復合材料的成分與密度檢測

3. 稀土晶體生長原料：Dy:LiYF?激光晶體的前驅(qū)體質(zhì)量驗證

4. 熒光粉添加劑：LED用Dy3+摻雜氟化物基質(zhì)的元素分布分析

5. 特種玻璃原料：氟磷酸鹽玻璃中DyF?的摻入均勻性測試

檢測方法

1. GB/T 12690.5-2020《稀土金屬及其氧化物化學分析方法》第5部分：ICP-MS法測定雜質(zhì)元素

2. ASTM C1605-18《核級氟化稀土化學分析的試驗方法》

3. ISO 21078-1:2008《耐火制品中硼(III)氧化物、氮化物的測定》擴展應用于氟含量驗證

4. GB/T 4334-2020《金屬材料高溫氧化試驗方法》用于熱穩(wěn)定性評估

5. JY/T 009-2014《轉靶多晶體X射線衍射方法通則》進行物相鑒定

檢測設備

1. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：配備HyPix-3000探測器，θ/θ測角儀精度±0.0001°

2. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：質(zhì)量范圍2-290amu，檢出限達ppt級

3. Netzsch STA 449 F5同步熱分析儀：溫度范圍RT-1550℃，TG分辨率0.1μg

4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm，干濕法雙模式

5. Bruker S8 TIGER波長色散X熒光光譜儀：Rh靶4kW發(fā)生器，10μm準直器

6. Agilent 7900 ICP-OES：垂直炬管設計，軸向/徑向觀測雙模式

7. Shimadzu EDX-7000能量色散光譜儀：50kV銠靶X射線管，Be窗厚度75μm

8. PerkinElmer TGA 4000熱重分析儀：溫度精度±1℃，最大樣品量150mg

9. Zeiss Sigma 500場發(fā)射電鏡：配備Oxford X-MaxN 80能譜儀

10.Mettler Toledo XPR6U超微量天平：最小稱量值0.6μg，重復性±0.25μg

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)