參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.絕緣電阻測(cè)試：測(cè)量500VDC下≥100MΩ的絕緣性能（IEC60664-1）
2.耐壓強(qiáng)度試驗(yàn)：AC3kV/5mA持續(xù)60秒無(wú)擊穿（GB/T1408.1）
3.溫升特性分析：額定負(fù)載下溫升≤65K（UL60950-1）
4.接觸電阻測(cè)定：端子連接點(diǎn)電阻≤0.5mΩ（ASTMB539）
5.機(jī)械壽命測(cè)試：開(kāi)關(guān)類(lèi)零件≥10萬(wàn)次循環(huán)（GB/T15092.1）

檢測(cè)范圍

1.連接器類(lèi)：航空插頭/工業(yè)端子/PCB接插件
2.開(kāi)關(guān)組件：繼電器/斷路器/按鈕開(kāi)關(guān)
3.變壓器部件：線圈骨架/磁芯/絕緣套管
4.電路保護(hù)器件：熔斷器/浪涌保護(hù)器
5.線纜組件：高壓線束/屏蔽電纜/柔性線路板

檢測(cè)方法

1.絕緣電阻：依據(jù)IEC60664-1與GB/T16935.1進(jìn)行極化指數(shù)測(cè)量
2.介質(zhì)損耗角：采用IEC60250規(guī)定的西林電橋法
3.鹽霧腐蝕：執(zhí)行GB/T2423.17中性鹽霧試驗(yàn)（5%NaCl溶液）
4.X射線探傷：按ASTME2737進(jìn)行內(nèi)部缺陷三維成像
5.振動(dòng)疲勞：遵循ISO16750-3多軸向隨機(jī)振動(dòng)譜測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.FLUKE1503絕緣測(cè)試儀：0-1000VDC/0.01-99.9GΩ測(cè)量
2.Chroma19032耐壓測(cè)試儀：AC5kV/DC6kV雙模式輸出
3.KIKUSUITOS9200接地電阻計(jì)：0-2000mΩ四線法測(cè)量
4.ESPECPL-3KPH氣候箱：-70℃~+180℃溫變?cè)囼?yàn)
5.OLYMPUSIPLEXGX工業(yè)內(nèi)窺鏡：4mm探頭直徑/6向?qū)?br>6.BRUEL&KJAER4809振動(dòng)臺(tái)：50kN推力/2000Hz頻率范圍
7.HIOKIRM3545微電阻計(jì)：0.01μΩ分辨率/1A恒流源
8.KEYENCEVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍景深合成成像
9.AGILENT4294A阻抗分析儀：40Hz-110MHz頻率掃描
10.THERMOSCIENTIFICDXR3拉曼光譜儀：532nm激光/1μm空間分辨率

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)