參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1. 平面度公差：測量各工作面與理論平面的最大偏離值（典型要求≤0.02mm）

2. 角度偏差：相鄰平面夾角誤差（常規(guī)精度±30"）

3. 表面粗糙度：Ra值范圍0.4-3.2μm（依據(jù)加工等級）

4. 尺寸公差：長度/寬度/高度偏差（IT6-IT8級）

5. 棱線直線度：每100mm長度允許偏差≤0.015mm

檢測范圍

1. 金屬切削件：鋁合金/鋼制精密零件

2. 光學棱鏡：BK7玻璃/石英晶體多面體

3. 塑料模具：注塑模分型面組合體

4. 陶瓷基板：電子封裝用氧化鋁結構件

5. 復合材料：碳纖維增強聚合物構件

檢測方法

ISO 12180:2017《產(chǎn)品幾何技術規(guī)范(GPS) 圓柱度和平面度的評定》

GB/T 1958-2017《產(chǎn)品幾何量技術規(guī)范(GPS) 形狀和位置公差 檢測規(guī)定》

ASTM E177-14《幾何尺寸與公差(GD&T)應用標準》

ISO 4291:1985《圓度和圓柱度的評定方法》

GB/T 1804-2000《一般公差 未注公差的線性和角度尺寸的公差》

檢測設備

1. Hexagon Global S 07.10.07三坐標測量機：空間尺寸測量精度±(1.9+L/250)μm

2. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：Ra測量范圍0.01-50μm

3. Renishaw XL-80激光干涉儀：線性測量分辨率0.001μm

4. ZYGO Verifire MST干涉儀：平面度測量精度λ/20（@632.8nm）

5. Wyler Zerotronic電子水平儀：角度測量精度±0.5"

6. Keyence IM-8000圖像尺寸測量儀：重復精度±0.3μm

7. Mahr Millimar C1216電感測微儀：分辨率0.01μm

8. Tesa Micro-Hite 3D高度規(guī)：Z軸測量精度±(1.5+L/100)μm

9. Optacom Form Talysurf PGI NOVUS輪廓儀：Z軸分辨率0.8nm

10. Nikon NEXIV VMZ-S3020視頻測量系統(tǒng)：光學放大倍率35X-210X

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質