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光學投影檢測

2025-04-03 關鍵詞:光學投影項目報價,光學投影測試標準,光學投影測試機構 相關:
光學投影檢測

光學投影檢測摘要:光學投影檢測是一種基于光學成像原理的非接觸式精密測量技術,廣泛應用于工業(yè)制造與質(zhì)量控制領域。其核心通過高分辨率投影系統(tǒng)捕捉被測物輪廓信息,結合圖像處理算法分析幾何尺寸、形狀公差及表面特征。本文系統(tǒng)闡述該技術的檢測項目、適用材料范圍、標準化方法及關鍵設備配置,為工程實踐提供技術參考。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 二維輪廓尺寸精度:測量誤差范圍±0.5μm~±2μm(視物鏡倍率)

2. 幾何形狀公差:圓度≤1.5μm、直線度≤2μm/m、平面度≤3μm

3. 表面粗糙度:Ra 0.05-6.3μm(需配合專用光柵組件)

4. 角度偏差:分辨率0.001°,測量范圍0-360°

5. 螺紋參數(shù):中徑誤差±1μm、螺距累積誤差≤3μm/25mm

檢測范圍

1. 金屬精密零件:包括微型齒輪(模數(shù)0.1-2)、鐘表機芯組件、醫(yī)療器械部件

2. 塑料注塑件:連接器端子(公差±5μm)、光學導光板(厚度0.3-5mm)

3. 陶瓷基板:MLCC電子元件(尺寸0.6×0.3mm~10×8mm)、半導體封裝載板

4. 光學元件:非球面透鏡(曲率半徑±0.01mm)、棱鏡角度誤差(<3arcmin)

5. 電子接插件:引腳共面度(≤10μm)、端子間距(0.4-2.54mm)

檢測方法

1. ISO 12179:2021 幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面紋理輪廓法測量程序

2. ASTM E3061-17 數(shù)字圖像相關法非接觸應變測量標準

3. GB/T 1800.1-2020 產(chǎn)品幾何技術規(guī)范(GPS)線性尺寸公差ISO代號體系

4. ISO 10360-7:2011 坐標測量機(CMM)光學距離傳感器性能評定

5. GB/T 11337-2004 平面度誤差檢測規(guī)定中的對角線法評定準則

檢測設備

1. Mitutoyo Quick Vision Elite系列:三坐標光學測量儀,最大量程600×500×300mm,像素分辨率0.3μm

2. OGP SmartScope ZIP 250:多傳感器系統(tǒng)配備8環(huán)LED照明,Z軸重復精度±0.8μm

3. Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡:4K CMOS傳感器實現(xiàn)20-6000倍連續(xù)變倍觀察

4. Zeiss O-INSPECT 543:復合式測量機集成接觸式探針與光學傳感器

5. Nikon NEXIV VMZ-S656T:雙遠心鏡頭系統(tǒng)支持φ150mm視場測量

6. Hexagon Optiv Performance 322:配備RSS聚焦技術實現(xiàn)±0.4μm Z軸精度

7. Vision Engineering Lynx EVO:動態(tài)變焦系統(tǒng)實現(xiàn)5-220倍無級放大

8. Starrett AV500視頻測量系統(tǒng):配備四環(huán)八區(qū)LED冷光源系統(tǒng)

9. Werth ScopeCheck CNC:多軸聯(lián)動光學掃描速度達100mm/s

10. Chotest VT3000S全自動影像儀:配備大理石基座溫度穩(wěn)定性±0.1℃/h

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析光學投影檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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