參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 全鐵（TFe）含量測定：采用化學(xué)滴定法測定Fe?O?含量（40-65%范圍）

2. 二氧化硅（SiO?）含量分析：XRF法測定雜質(zhì)含量（0.5-15%精度）

3. 燒失量（LOI）測試：高溫灼燒法測定900℃下質(zhì)量損失（3-12%區(qū)間）

4. 粒度分布測定：激光衍射法分析D50粒徑（10-200μm范圍）

5. 礦物相鑒定：XRD法確定針鐵礦（α-FeOOH）與纖鐵礦（γ-FeOOH）比例

檢測范圍

1. 冶金工業(yè)用褐鐵礦原礦及精礦

2. 陶瓷工業(yè)用含鐵原料

3. 化工催化劑載體材料

4. 地質(zhì)勘探巖芯樣本

5. 建筑材料添加劑

檢測方法

1. GB/T 6730.5-2016 鐵礦石化學(xué)分析法測定全鐵含量

2. ASTM E1915-2011 X射線熒光光譜法測定多元素含量

3. ISO 22262-1:2012 礦物相X射線衍射定量分析

4. GB/T 14506.30-2010 硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法

5. ISO 13320:2020 激光衍射法粒度分析通則

檢測設(shè)備

1. Rigaku ZSX Primus IV X射線熒光光譜儀：多元素快速定量分析

2. PerkinElmer TGA 8000熱重分析儀：燒失量精確測定

3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：0.01-3500μm粒度測試

4. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：礦物相結(jié)構(gòu)鑒定

5. Metrohm 888 Titrando自動滴定儀：鐵含量高精度測定

6. Shimadzu EDX-7000能量色散光譜儀：微區(qū)元素分析

7. Netzsch STA 449F3同步熱分析儀：綜合熱特性測試

8. Agilent 5110 ICP-OES電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀：痕量元素檢測

9. Leica DM2700P偏光顯微鏡：礦物顯微結(jié)構(gòu)觀察

10. Mettler Toledo XPR206DR微量天平：0.01mg精度稱量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)