參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.表面靜電位測量：范圍20kV，分辨率0.1V

2.電場強(qiáng)度分布：量程0-500kV/m，精度2%

3.電荷密度測定：分辨率110^-9C/cm

4.電位衰減特性：時(shí)間常數(shù)0.1-1000s

5.介電常數(shù)測試：頻率范圍1Hz-10MHz

檢測范圍

1.半導(dǎo)體材料：硅晶圓、GaN基板等

2.高分子材料：PTFE薄膜、PE絕緣件

3.金屬涂層：鍍鋅鋼板、陽極氧化鋁

4.電子元件：PCB基板、電容器介質(zhì)層

5.功能材料：壓電陶瓷、駐極體材料

檢測方法

ASTMD4470-2018非接觸式表面電位測量規(guī)范

ISO28842:2019電場分布成像測試方法

GB/T31845-2015靜電衰減性能測試規(guī)程

GB/T16840.3-2021絕緣材料介電特性測定

IEC62631-3-1:2016體積電阻率測試標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

1.KeysightB2987A靜電計(jì)：分辨率0.1fA/0.1μV

2.TrekModel347非接觸電位計(jì)：量程20kV

3.Keithley6517B高阻計(jì)：最大阻抗10PΩ

4.MonroeElectronicsModel284E場強(qiáng)計(jì)：精度1%

5.SimcoFMX-003靜電分布成像系統(tǒng)：空間分辨率0.5mm

6.HIOKIIM3570阻抗分析儀：頻率范圍1Hz-5MHz

7.Electro-TechSystemsModel541電荷衰減測試儀

8.TREKP0865掃描探針電位測量系統(tǒng)

9.AgilentE4980ALCR表：基本精度0.05%

10.MitsubishiChemicalHMM-1000介電譜分析儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)