極化軸檢測摘要:極化軸檢測是評估光學(xué)元件及機(jī)械部件偏振特性與幾何精度的關(guān)鍵質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。核心檢測參數(shù)包括軸向偏振角偏差、同心度誤差及表面粗糙度等指標(biāo),需通過激光干涉儀、偏振分析儀等高精度設(shè)備實(shí)施測量。本文依據(jù)ASTM、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系,系統(tǒng)闡述工業(yè)級極化軸檢測的技術(shù)規(guī)范與方法論框架。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.軸向偏振角偏差:測量范圍0.5,分辨率0.01
2.同心度誤差:公差等級IT5-IT7,最大允許偏差≤3μm
3.表面粗糙度:Ra0.025-0.4μm,Rz0.1-1.6μm
4.偏振消光比:動態(tài)范圍30-60dB,波長覆蓋400-1600nm
5.相位延遲量:測試精度λ/200@632.8nm
1.光學(xué)元件:偏振片、波片、法拉第旋光器
2.光纖通信器件:保偏光纖連接器、光隔離器
3.半導(dǎo)體材料:鈮酸鋰晶體、釩酸釔基板
4.醫(yī)療器械:內(nèi)窺鏡光學(xué)系統(tǒng)、激光治療儀振鏡
5.航空航天部件:星載偏振相機(jī)棱鏡組、慣導(dǎo)系統(tǒng)陀螺儀
1.ASTMD7179:偏振片透射率與消光比測試規(guī)程
2.ISO10110-12:光學(xué)元件應(yīng)力雙折射量化分析方法
3.GB/T11297.11:激光晶體角度偏差干涉測量法
4.ISO14999-4:光學(xué)相位延遲量瓊斯矩陣測量技術(shù)
5.GB/T1800.2:幾何公差配合的極坐標(biāo)測量體系
1.KeysightN7788B偏振分析儀:支持40Gb/s實(shí)時偏振態(tài)分析
2.ZygoVerifireMST激光干涉儀:面形精度λ/1000RMS
3.ThorlabsPAX5710UV偏振計(jì):190-1100nm寬譜段測量
4.MitutoyoRA-2200粗糙度儀:16nm分辨率接觸式探針
5.RenishawXL-80激光跟蹤儀:0.5ppm線性測量精度
6.HamamatsuC13534旋光測量系統(tǒng):0.001角度分辨率
7.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀:0.1nm垂直分辨率
8.Agilent8509C偏振特性測試儀:50MHz-40GHz頻段覆蓋
9.OlympusSTM7測量顯微鏡:700放大倍率帶DIC功能
10.HexagonLeitzPMM-C超高精度三坐標(biāo)機(jī):MPEE=0.6+L/400μm
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析極化軸檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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