參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.疇壁寬度測(cè)量：分辨率≤10nm，測(cè)量范圍5-50nm

2.閉合磁滯回線測(cè)試：磁場(chǎng)強(qiáng)度2T，精度0.1%FS

3.局部磁場(chǎng)強(qiáng)度分布：空間分辨率1μm，靈敏度10μT

4.動(dòng)態(tài)翻轉(zhuǎn)特性分析：頻率范圍DC-10MHz

5.熱穩(wěn)定性測(cè)試：溫度范圍-196℃~300℃，溫控精度0.5℃

檢測(cè)范圍

1.軟磁合金環(huán)狀試樣（硅鋼片、坡莫合金等）

2.永磁材料環(huán)形元件（釹鐵硼、釤鈷等）

3.薄膜磁性存儲(chǔ)介質(zhì)（CoCrPt系濺射薄膜）

4.納米晶環(huán)形磁芯（Fe基非晶帶材）

5.高頻變壓器環(huán)形磁芯（MnZn鐵氧體材料）

檢測(cè)方法

1.ASTMA937-15《環(huán)形試樣磁疇觀測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方法》

2.ISO21747:2019《磁性材料旋轉(zhuǎn)損耗測(cè)試規(guī)程》

3.GB/T13888-2020《磁粉檢測(cè)方法》

4.IEC60404-6:2018《軟磁材料環(huán)形試樣測(cè)試》

5.GB/T3656-2008《軟磁材料直流磁性能測(cè)量方法》

檢測(cè)設(shè)備

1.QuantumDesignPPMSDynaCool：實(shí)現(xiàn)1.9K~400K寬溫域下的高精度磁滯回線測(cè)量

2.BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡：配備MFM模塊實(shí)現(xiàn)50nm級(jí)磁疇成像

3.LakeShore8600系列VSM：磁場(chǎng)強(qiáng)度3T，扭矩分辨率110??Nm

4.OxfordInstrumentsMagLabEXA：12T超導(dǎo)磁體結(jié)合微波頻段動(dòng)態(tài)測(cè)試功能

5.KeysightB2902A精密源表：支持pA級(jí)電流測(cè)量與μV級(jí)電壓分辨率

6.HamamatsuPEM系列磁光成像系統(tǒng)：波長(zhǎng)532nm/650nm雙光源配置

7.OmicronVT-STM掃描隧道顯微鏡：原子級(jí)表面形貌與磁場(chǎng)聯(lián)合分析

8.Agilent4294A阻抗分析儀：40Hz-110MHz頻段復(fù)磁導(dǎo)率測(cè)量

9.HitachiHF5000透射電鏡：配備Lorentz模式實(shí)現(xiàn)納米級(jí)磁疇觀測(cè)

10.LinkamTS1500熱臺(tái)：-196℃~600℃原位溫度控制平臺(tái)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)