參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主量元素含量分析：測(cè)定TFe（總鐵）、Cu（銅）、Al?O?（氧化鋁）等主成分含量范圍（20%-50%）

2.礦物相組成鑒定：采用XRD定量分析赤鐵礦/褐鐵礦占比（1%精度）

3.有害元素篩查：As（砷）、Pb（鉛）、Hg（汞）等元素限值檢測(cè)（ppm級(jí)）

4.賦存狀態(tài)分析：通過(guò)MLA系統(tǒng)測(cè)定礦物嵌布粒度（5-200μm）

5.可選性試驗(yàn)：磨礦細(xì)度（-200目占比60-95%）與回收率關(guān)聯(lián)測(cè)試

檢測(cè)范圍

1.低品位鐵礦：TFe含量20-50%的赤鐵礦/磁鐵礦復(fù)合礦

2.氧化銅礦：Cu品位0.3-1.0%的硅孔雀石/藍(lán)銅礦

3.鋁土礦：Al?O?/SiO?比值為2-4的三水鋁石型礦石

4.尾礦資源：選廠排放物中金屬殘留量≥0.1g/t的二次資源

5.伴生礦產(chǎn)：含稀有金屬（Li,Nb,Ta）的偉晶巖型復(fù)合礦

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（GB/T16597-2019）測(cè)定主次量元素

2.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ISO11885:2007）進(jìn)行痕量元素分析

3.X射線衍射定量相分析（ASTME158-17）確定礦物組成

4.掃描電鏡-能譜聯(lián)用技術(shù)（GB/T27788-2020）表征微觀形貌

5.化學(xué)物相分析（GB/T6730.5-2007）判定元素賦存狀態(tài)

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoFisherARLPERFORM'XXRF光譜儀：波長(zhǎng)色散型，檢出限0.01%

2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光譜儀：火焰/石墨爐雙模式

3.BrukerD8ADVANCEXRD衍射儀：Cu靶光源，角度精度0.0001

4.FEIMLA650礦物解離分析系統(tǒng)：BSE探測(cè)器+能譜聯(lián)用

5.Agilent7900ICP-MS質(zhì)譜儀：質(zhì)量數(shù)范圍3-270amu

6.ZeissEVOMA15掃描電鏡：分辨率3nm@30kV

7.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

8.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用系統(tǒng)

9.MettlerToledoXSE105電子天平：可讀性0.01mg

10.HerzogHSM100半自動(dòng)粉碎機(jī)：出料粒度≤75μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)