低品位礦檢測(cè)摘要:低品位礦檢測(cè)需通過(guò)精準(zhǔn)分析礦物成分及賦存狀態(tài)確定可利用性。核心檢測(cè)指標(biāo)包括主量元素含量、礦物相組成、有害元素限值等參數(shù)。實(shí)驗(yàn)室需依據(jù)ISO、GB/T等標(biāo)準(zhǔn)體系開(kāi)展多維度表征,結(jié)合XRF、ICP-OES等精密儀器確保數(shù)據(jù)可靠性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.主量元素含量分析:測(cè)定TFe(總鐵)、Cu(銅)、Al?O?(氧化鋁)等主成分含量范圍(20%-50%)
2.礦物相組成鑒定:采用XRD定量分析赤鐵礦/褐鐵礦占比(1%精度)
3.有害元素篩查:As(砷)、Pb(鉛)、Hg(汞)等元素限值檢測(cè)(ppm級(jí))
4.賦存狀態(tài)分析:通過(guò)MLA系統(tǒng)測(cè)定礦物嵌布粒度(5-200μm)
5.可選性試驗(yàn):磨礦細(xì)度(-200目占比60-95%)與回收率關(guān)聯(lián)測(cè)試
1.低品位鐵礦:TFe含量20-50%的赤鐵礦/磁鐵礦復(fù)合礦
2.氧化銅礦:Cu品位0.3-1.0%的硅孔雀石/藍(lán)銅礦
3.鋁土礦:Al?O?/SiO?比值為2-4的三水鋁石型礦石
4.尾礦資源:選廠排放物中金屬殘留量≥0.1g/t的二次資源
5.伴生礦產(chǎn):含稀有金屬(Li,Nb,Ta)的偉晶巖型復(fù)合礦
1.X射線熒光光譜法(GB/T16597-2019)測(cè)定主次量元素
2.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ISO11885:2007)進(jìn)行痕量元素分析
3.X射線衍射定量相分析(ASTME158-17)確定礦物組成
4.掃描電鏡-能譜聯(lián)用技術(shù)(GB/T27788-2020)表征微觀形貌
5.化學(xué)物相分析(GB/T6730.5-2007)判定元素賦存狀態(tài)
1.ThermoFisherARLPERFORM'XXRF光譜儀:波長(zhǎng)色散型,檢出限0.01%
2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光譜儀:火焰/石墨爐雙模式
3.BrukerD8ADVANCEXRD衍射儀:Cu靶光源,角度精度0.0001
4.FEIMLA650礦物解離分析系統(tǒng):BSE探測(cè)器+能譜聯(lián)用
5.Agilent7900ICP-MS質(zhì)譜儀:質(zhì)量數(shù)范圍3-270amu
6.ZeissEVOMA15掃描電鏡:分辨率3nm@30kV
7.MalvernMastersizer3000激光粒度儀:測(cè)量范圍0.01-3500μm
8.NetzschSTA449F3同步熱分析儀:TG-DSC聯(lián)用系統(tǒng)
9.MettlerToledoXSE105電子天平:可讀性0.01mg
10.HerzogHSM100半自動(dòng)粉碎機(jī):出料粒度≤75μm
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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