參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.幾何尺寸測(cè)量：線性尺寸（0.1μm）、圓度（≤0.5μm）、平面度（≤1μm/m）

2.表面粗糙度分析：Ra值（0.01-10μm）、Rz值（0.05-50μm）

3.三維形貌重建：Z軸分辨率（0.05μm）、點(diǎn)云密度（≥100萬(wàn)點(diǎn)/秒）

4.動(dòng)態(tài)變形監(jiān)測(cè)：采樣頻率（1kHz-10MHz）、位移分辨率（0.01μm）

5.熱膨脹系數(shù)測(cè)定：溫度范圍（-50℃~300℃）、膨脹量精度（0.05%）

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：鋁合金（6061-T6）、鈦合金（TC4）、不銹鋼（316L）等

2.光學(xué)元件：透鏡曲率半徑（R5-R2000mm）、棱鏡角度公差（3"）

3.電子元件：PCB板翹曲度（≤0.75%）、BGA焊球直徑（100-760μm）

4.高分子材料：注塑件收縮率（0.2%-2%）、薄膜厚度（10-500μm）

5.復(fù)合材料：碳纖維鋪層角度偏差（≤0.5）、孔隙率檢測(cè)（≤1%）

檢測(cè)方法

1.激光三角法：ASTME2544-11a(2021)、GB/T34879-2017

2.干涉測(cè)量法：ISO10110-8:2020、GB/T1800.2-2020

3.共聚焦顯微術(shù)：ISO25178-602:2010、GB/T39489-2020

4.飛行時(shí)間法：ISO10360-13:2021、GB/T34882-2017

5.散斑干涉法：ASTME1311-14(2019)、GB/T38890-2020

檢測(cè)設(shè)備

1.KeyenceLK-G5000：激光位移傳感器，分辨率0.01μm，采樣頻率392kHz

2.MitutoyoLJ-X8000系列：藍(lán)光三維掃描儀，測(cè)量精度1.5μm

3.ZygoNewView9000：白光干涉儀，垂直分辨率0.1nm

4.HexagonAbsoluteArm9T：激光跟蹤儀，空間精度15μm+6μm/m

5.NikonLC60Dx：激光坐標(biāo)機(jī)，最大允許誤差(2.5+L/200)μm

6.OGPSmartScopeFlash500：多傳感器系統(tǒng)，復(fù)合式測(cè)量不確定度≤1μm

7.PolytecPSV-500：掃描式激光測(cè)振儀，頻率范圍DC-25MHz

8.ZeissO-INSPECT322：復(fù)合式測(cè)量機(jī)，CTE測(cè)量精度0.0510^-6/K

9.RenishawREVO-2：五軸測(cè)量系統(tǒng)，表面粗糙度Ra重復(fù)性≤2%

10.FaroQuantumS：便攜式激光掃描儀，點(diǎn)距精度25μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)