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等高儀檢測

2025-04-10 關(guān)鍵詞:等高儀測試標(biāo)準(zhǔn),等高儀項(xiàng)目報(bào)價(jià),等高儀測試范圍 相關(guān):
等高儀檢測

等高儀檢測摘要:等高儀檢測是精密幾何量測量的重要技術(shù)手段,主要應(yīng)用于機(jī)械制造、光學(xué)元件及航空航天領(lǐng)域的關(guān)鍵部件形位公差驗(yàn)證。核心檢測參數(shù)包括平面度、垂直度、同軸度等指標(biāo),需依據(jù)ISO1101、GB/T1958等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行規(guī)范化操作。本文系統(tǒng)闡述檢測項(xiàng)目、適用材料、方法標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)備選型等技術(shù)要素。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.平面度測量:分辨率0.1μm,測量范圍Φ300mm

2.垂直度驗(yàn)證:角度誤差≤2",基準(zhǔn)面平面度≤0.5μm

3.同軸度分析:徑向跳動量≤0.8μm/100mm

4.圓度評定:采樣點(diǎn)≥1024點(diǎn)/圓周,評定算法符合ISO12181

5.直線度校準(zhǔn):導(dǎo)軌運(yùn)動誤差≤0.3μm/200mm

檢測范圍

1.金屬材料:航空發(fā)動機(jī)葉片基座(TC4鈦合金)

2.陶瓷基板:半導(dǎo)體封裝用Al?O?基板(厚度0.5-3mm)

3.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)結(jié)構(gòu)件

4.光學(xué)元件:非球面透鏡(曲率半徑R50-R500mm)

5.精密模具:注塑模芯(硬度HRC58-62)

檢測方法

1.ISO1101:2017《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)幾何公差形狀、方向、位置和跳動公差》

2.ASTME177-14《測量不確定度表示指南》

3.GB/T1958-2017《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測規(guī)定》

4.ISO12180-2:2011《圓柱度評定準(zhǔn)則》

5.GB/T11336-2004《直線度誤差檢測》

檢測設(shè)備

1.TaylorHobsonTalyrond585:圓度/圓柱度測量精度0.01μm

2.MitutoyoCRYSTA-ApexS574:多傳感器復(fù)合測量系統(tǒng)

3.ZeissACCURAII:三坐標(biāo)等高儀集成方案

4.MahrMarFormMMQ400:表面輪廓+形狀誤差綜合測量機(jī)

5.TokyoSeimitsuSURFCOMFLEX-AXL:非接觸式激光等高儀

6.HexagonLeitzPMM-FInfinity:溫度補(bǔ)償型超高精度測量系統(tǒng)

7.KeyenceLJ-V7000系列:線激光掃描式高速等高儀

8.JenoptikHommel-EtamicW10:納米級表面形貌分析儀

9.RenishawREVO五軸測量系統(tǒng):動態(tài)等高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

10.WenzelLHGOLD:大型龍門式等高測量中心

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析等高儀檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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