參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：ZrO?含量（≥65%）、SiO?含量（≤34%）、Fe?O?（≤0.1%）、TiO?（≤0.2%）

2.粒度分布：D10（1-3μm）、D50（5-15μm）、D90（20-50μm）

3.灼燒減量：1050℃下≤0.5%（GB/T16555）

4.放射性核素：U+Th總活度≤1.0Bq/g（ISO18589）

5.晶體結(jié)構(gòu)：?jiǎn)涡毕嗪俊?%（XRD半定量分析）

檢測(cè)范圍

1.陶瓷材料：電子陶瓷基板、結(jié)構(gòu)陶瓷部件原料

2.鑄造涂料：消失模鑄造用耐火涂層材料

3.耐火材料：連鑄中間包涂料、定徑水口原料

4.核工業(yè)材料：核廢料固化基體添加劑

5.電子材料：MLCC介質(zhì)層改性劑

檢測(cè)方法

1.ASTMC1469-10(2020)：XRF法測(cè)定鋯英砂化學(xué)組成

2.ISO13320-1:2020：激光衍射法粒度分析

3.GB/T6609.30-2009：高頻紅外碳硫儀測(cè)定碳含量

4.ISO21587-3:2007：ICP-AES法測(cè)定微量元素

5.GB/T16555-2017：耐火材料化學(xué)分析方法

6.ASTME112-13：金相法測(cè)定晶粒尺寸

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線熒光光譜儀（XRF-1800）：主量元素快速定量分析

2.激光粒度分析儀（Mastersizer3000）：0.01-3500μm粒度測(cè)試

3.高頻紅外碳硫儀（CS844）：ppm級(jí)碳硫元素檢測(cè)

4.X射線衍射儀（D8ADVANCE）：物相組成與晶體結(jié)構(gòu)分析

5.電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES7300）：痕量金屬元素測(cè)定

6.熱重分析儀（TGA/DSC3+）：灼燒減量及熱穩(wěn)定性測(cè)試

7.α/β放射性測(cè)量?jī)x（LB770）：鈾釷放射性活度檢測(cè)

8.掃描電鏡（SEMSU5000）：微觀形貌與能譜聯(lián)用分析

9.比表面積分析儀（TriStarII3020）：BET法表面特性測(cè)定

10.高溫顯微鏡（EM201）：熔融特性與燒結(jié)行為觀察

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)