參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 折射率精度：測(cè)量范圍1.8-2.4（@589nm），允許偏差±0.0003

2. 表面均勻性：全口徑波前畸變≤λ/10（λ=632.8nm）

3. 膜層厚度：多層鍍膜單層厚度誤差≤±2nm

4. 表面粗糙度：Ra≤0.5nm（掃描區(qū)域50μm×50μm）

5. 抗反射性能：400-700nm波段反射率≤0.5%

檢測(cè)范圍

1. 高折射光學(xué)玻璃（H-LAK系列、H-ZF類）

2. 樹(shù)脂復(fù)合鏡片（聚碳酸酯、MR系列材料）

3. 納米結(jié)構(gòu)增透鍍膜（TiO?/SiO?多層膜系）

4. 半導(dǎo)體光電器件（GaN基LED外延片）

5. 激光晶體元件（Nd:YAG、LiNbO?晶體加工面）

檢測(cè)方法

1. ASTM E1967-19橢偏法測(cè)定薄膜折射率

2. ISO 13666:2019眼科光學(xué)鏡片基本要求

3. GB/T 7962.1-2010無(wú)色光學(xué)玻璃測(cè)試方法

4. ISO 10110-5光學(xué)元件表面缺陷評(píng)定

5. GB/T 26331-2010光學(xué)薄膜激光損傷閾值測(cè)量

檢測(cè)設(shè)備

1. J.A. Woollam M-2000UI寬譜橢偏儀：400-1700nm全自動(dòng)薄膜分析

2. Zygo Verifire HD激光干涉儀：0.1nm級(jí)面形精度測(cè)量

3. Bruker ContourGT-X3白光干涉儀：三維表面粗糙度分析

4. Shimadzu UV-3600Plus分光光度計(jì)：190-2500nm透反射測(cè)試

5. Veeco Dektak XT臺(tái)階儀：?級(jí)膜厚剖面測(cè)量

6. Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦顯微鏡：120nm橫向分辨率

7. Agilent 8700 LDIR激光紅外成像系統(tǒng)：微區(qū)成分分析

8. OptoTest OPMM-SC偏振相關(guān)損耗測(cè)試儀

9. Trioptics OptiCentric雙光路偏心儀

10. Coherent Pharos飛秒激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)