參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 水平軸誤差：測量軸線與水平面偏差值（≤±2″）

2. 垂直軸靈敏度：軸系轉(zhuǎn)動摩擦阻力（≤0.05N·m）

3. 羅盤磁偏角校正：磁針指向與真北偏差（±0.1°）

4. 望遠(yuǎn)鏡視準(zhǔn)軸誤差：視軸與機(jī)械軸偏移量（≤3″）

5. 自動補(bǔ)償器精度：補(bǔ)償范圍（±3'）內(nèi)定位誤差（≤0.5″）

檢測范圍

1. 地質(zhì)勘探用光學(xué)經(jīng)緯儀（Wild T2/Theo 010B系列）

2. 建筑工程電子經(jīng)緯儀（Sokkia DT-540/Leica TPS1200）

3. 礦山測量陀螺經(jīng)緯儀（Gyromat 5000/GP3-2AK）

4. 軍事測繪激光經(jīng)緯儀（Trimble S7/Nikon NPL-322+）

5. 船舶導(dǎo)航磁羅經(jīng)（Sperry MK37/Tokimec ES-11）

檢測方法

1. ISO 17123-3:2021光學(xué)測量儀器現(xiàn)場校準(zhǔn)規(guī)程

2. GB/T 3161-2015《工程測量規(guī)范》軸線偏差測試方法

3. ASTM E2938-15磁羅經(jīng)實驗室校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

4. JJG 414-2016經(jīng)緯儀檢定規(guī)程多位置法

5. DIN 18723-6:2018電子測角系統(tǒng)對比法驗證

檢測設(shè)備

1. Leica TS60全站儀：0.5″測角精度自動校準(zhǔn)系統(tǒng)

2. Wild NA2水準(zhǔn)儀：±0.3mm/km補(bǔ)償器驗證裝置

3. Fluke 754過程校準(zhǔn)儀：磁傳感器標(biāo)定模塊

4. Trimble S9全站儀：多測回測角數(shù)據(jù)采集平臺

5. Zeiss Ni007數(shù)字自準(zhǔn)直儀：0.1″級軸線偏差分析儀

6. Agilent 34970A數(shù)據(jù)采集器：溫度漂移補(bǔ)償測試單元

7. Nikon Nivo C系列電子經(jīng)緯儀：動態(tài)角度重復(fù)性測試臺

8. Riegl VZ-4000激光掃描儀：三維空間基準(zhǔn)建立系統(tǒng)

9. Honeywell HMR3300磁力計：地磁場強(qiáng)度模擬裝置

10. Mitutoyo MUMA-W500影像測量儀：分劃板刻劃精度分析系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)