參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 相位一致性檢測(cè)：測(cè)量多通道相位偏差范圍（±0.5°以內(nèi)），頻率覆蓋6-110GHz；

2. 增益精度驗(yàn)證：標(biāo)稱增益誤差≤±0.3dB（參考頻率18GHz）；

3. 方向圖主瓣寬度：3dB波束寬度公差±0.8°（方位與俯仰面）；

4. 駐波比測(cè)試：VSWR≤1.5:1（工作頻段全范圍）；

5. 交叉極化鑒別率：≥25dB（中心頻點(diǎn)±5%帶寬）。

檢測(cè)范圍

1. 微波頻段拋物面反射器天線（6-110GHz）；

2. 毫米波相控陣天線（＞30GHz）；

3. 多通道干涉儀饋源陣列；

4. 衛(wèi)星通信雙極化喇叭天線；

5. 射電天文超寬帶對(duì)數(shù)周期天線。

檢測(cè)方法

1. ASTM E1723-20：遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖測(cè)試規(guī)范；

2. ISO/IEC 17025:2017：實(shí)驗(yàn)室射頻參數(shù)校準(zhǔn)流程；

3. GB/T 11451-2021：天線駐波比測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)；

4. IEEE Std 149-2021：增益比較法實(shí)施指南；

5. GB/T 17626.3-2023：電磁兼容輻射抗擾度測(cè)試。

檢測(cè)設(shè)備

1. Keysight PNA-X N5247B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：支持110GHz S參數(shù)測(cè)量；

2. NSI-MI 700S-90近場(chǎng)掃描系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)0.05°分辨率方向圖采集；

3. Rohde & Schwarz FSW85信號(hào)分析儀：85GHz實(shí)時(shí)頻譜監(jiān)測(cè)；

4. Orbit/FR-959遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)：承載2噸負(fù)載且定位精度±0.005°；

5. EMScan Lab-300多探頭暗室：30MHz-40GHz三維輻射場(chǎng)重構(gòu)；

6. Anritsu MA24507A功率傳感器：-70dBm至+20dBm動(dòng)態(tài)范圍；

7. Fluke PM6685R銣鐘頻率計(jì)：12位/s采樣率時(shí)基同步；

8. Agilent E8257D模擬信號(hào)源：輸出功率+27dBm@67GHz；

9. SATIMO SG64多探頭陣列：64通道并行相位校準(zhǔn)；

10. Teseq NSG 4070輻射抗擾度系統(tǒng)：20V/m場(chǎng)強(qiáng)生成能力。

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)