參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.硒含量測定：采用ICP-OES法測定總硒量（≥99.0%），精度0.3%

2.雜質(zhì)元素分析：鉛（≤50ppm）、鐵（≤100ppm）、汞（≤5ppm）、碲（≤200ppm）

3.物理性質(zhì)測試：密度（4.26-4.79g/cm）、熔點（217-220℃）、粒度分布（D50≤150μm）

4.氧化物含量：二氧化硒（SeO?）占比≤0.5%（重量法）

5.水分及揮發(fā)物：105℃恒重法測定≤0.2%

檢測范圍

1.冶金級粗硒原料（銅電解陽極泥提取物）

2.光伏行業(yè)用高純硒前驅(qū)體材料

3.玻璃著色劑生產(chǎn)用粗硒顆粒

4.化工催化劑載體粗硒粉末

5.電子級硒化鎘薄膜原料

檢測方法

1.ASTMD3859-15：電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定金屬雜質(zhì)

2.ISO17240:2004：X射線熒光光譜法測定硫族元素含量

3.GB/T11066.3-2008：硒化學分析方法-砷量的測定（氫化物原子熒光法）

4.GB/T23362.4-2009：高純硒化學分析方法-汞量的測定（冷原子吸收法）

5.ISO11885:2007：水質(zhì)-電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）測定微量元素

檢測設備

1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：多元素同步分析系統(tǒng)（檢出限0.01ppm）

2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光譜儀：配備石墨爐和氫化物發(fā)生器

3.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm

4.ShimadzuEDX-7000X射線熒光光譜儀：硫族元素定量分析模塊

5.MettlerToledoTGA/DSC3+熱重分析儀：揮發(fā)物測定精度0.1μg

6.Agilent7900ICP-MS：超痕量元素分析（ppt級檢出能力）

7.BrukerS8TIGER波長色散X射線熒光光譜儀：固體樣品無損檢測

8.Metrohm905Titrando電位滴定儀：氧化還原反應終點判定系統(tǒng)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)