參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 計數(shù)重復(fù)性誤差：單批次連續(xù)1000次計數(shù)的標準差≤0.05%

2. 線性度偏差：量程范圍內(nèi)5個校準點的最大偏移量≤±0.3%FS

3. 零點漂移量：8小時連續(xù)工作后基準值變化≤0.02%

4. 物料粘連干擾度：粒徑≤1mm顆粒物的誤觸發(fā)率＜0.01%

5. 電磁兼容性：30V/m場強下計數(shù)波動值≤±2counts/min

檢測范圍

1. 電子元器件：片式電阻/電容（0402-1206規(guī)格）、IC芯片托盤裝載體

2. 醫(yī)藥制劑：泡罩包裝片劑（直徑3-15mm）、西林瓶凍干粉針劑

3. 食品添加劑：微膠囊粉末（粒徑50-500μm）、液體香精定量灌裝

4. 金屬緊固件：M1-M6規(guī)格螺釘/螺母的振動盤送料系統(tǒng)

5. 紡織材料：化纖長絲束（80-300D）的定長切斷裝置

檢測方法

ASTM E2971-16：光電式計數(shù)裝置校準規(guī)范（分辨率0.1counts）

ISO 2859-3:2005：計數(shù)抽樣程序的統(tǒng)計控制要求

GB/T 2828.1-2012：逐批檢驗計數(shù)抽樣程序?qū)嵤┲改?/p>

IEC 61340-4-7:2017：靜電干擾對電子計數(shù)系統(tǒng)影響的測試方法

GB/T 2423.22-2012：高低溫循環(huán)（-20℃~70℃）對機械計數(shù)器的影響試驗

檢測設(shè)備

Keysight 53131A 頻率計數(shù)器：分辨率0.001Hz，支持RS485數(shù)據(jù)實時采集

Mettler Toledo XPR205DR分析天平：最小稱量值0.01mg，符合USP41標準

OMRON ZX-LD300激光位移傳感器：測量精度±0.02mm，采樣率50kHz

FLUKE 6105A電磁干擾模擬器：30MHz-6GHz全頻段輻射干擾生成

HBM PMX數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：32通道同步采集，支持Modbus/TCP協(xié)議

ESS振動試驗臺：最大加速度10Grms，符合MIL-STD-810G標準

VICTRON C4000顆粒物發(fā)生裝置：粒徑分布CV值≤5%，流量控制精度±1%

Thermo Scientific Heratherm恒溫箱：溫度均勻性±0.3℃，帶濕度補償功能

SICK WL12G-24321光電計數(shù)器：最小檢測物體間隔0.5ms，IP67防護等級

Nikon MM-400測量顯微鏡：50X光學(xué)放大倍數(shù)，配備十字線分劃板

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)