參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.熱穩(wěn)定性分析：分解溫度（T _d ≥300℃）、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（T _g 0.5℃）
2.力學性能測試：抗拉強度（≥500MPa）、彈性模量（70-200GPa）
3.電學特性評估：介電常數(shù)（ε _r ≤4.5）、體積電阻率（≥10 ¹⁵ Ωcm）
4.化學成分定量：元素含量誤差≤0.01wt%、官能團識別精度2cm ^-1
5.表面形貌表征：粗糙度Ra≤0.1μm、孔隙率≤0.5%

檢測范圍

1.高分子材料：聚乙烯（PE）、聚四氟乙烯（PTFE）薄膜
2.金屬合金：鈦合金TC4、鋁合金6061-T6
3.電子元件：PCB基板、半導(dǎo)體封裝材料
4.復(fù)合材料：碳纖維增強環(huán)氧樹脂（CFRP）
5.生物醫(yī)用材料：羥基磷灰石涂層、可降解聚乳酸支架

檢測方法

1.ASTMD3418：差示掃描量熱法測定玻璃化轉(zhuǎn)變溫度
2.ISO527-2：塑料拉伸性能測試標準
3.GB/T1409-2006：固體絕緣材料介電性能試驗
4.ASTME1252：傅里葉變換紅外光譜定性分析
5.ISO25178-2：非接觸式三維表面形貌測量
6.GB/T17359-2012：電子探針顯微分析通則

檢測設(shè)備

1.熱重分析儀TGA5500：測量精度0.1μg，溫度范圍25-1000℃
2.萬能材料試驗機Instron5967：最大載荷50kN，位移分辨率0.1μm
3.阻抗分析儀KeysightE4990A：頻率范圍20Hz-120MHz
4.FTIR光譜儀NicoletiS50：光譜范圍7800-350cm ^-1
5.白光干涉儀ZygoNewView9000：垂直分辨率0.1nm
6.X射線光電子能譜儀ThermoK-Alpha+：能量分辨率≤0.5eV
7.掃描電鏡HitachiSU5000：分辨率1.0nm@15kV
8.等離子體質(zhì)譜儀Agilent8900：檢出限≤ppt級
9.動態(tài)力學分析儀TAQ800：頻率范圍0.01-200Hz
10.X射線衍射儀BrukerD8ADVANCE：角度精度0.0001

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)