參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.發(fā)射率測定：波長范圍0.3-20μm波段積分發(fā)射率（ε≥0.85）
2.溫度均勻性：工作區(qū)間300-2000K時表面溫差ΔT≤1.5%
3.光譜響應特性：2-14μm波段光譜分辨率≤4nm
4.熱穩(wěn)定性測試：連續(xù)工作72小時性能波動≤0.02
5.角度依賴性：入射角0-85時發(fā)射率變化量δ≤0.03

檢測范圍

1.航天器熱控涂層（多層隔熱組件/輻射制冷薄膜）
2.工業(yè)高溫爐襯材料（碳化硅/氧化鋯基復合材料）
3.電子封裝散熱基板（氮化鋁/金剛石復合基材）
4.紅外偽裝涂層（多波段兼容型功能涂料）
5.太陽能集熱器吸熱膜層（選擇性吸收涂層）

檢測方法

ASTME423-17紅外光譜發(fā)射率測量規(guī)程
ISO18434-1:2008熱成像系統(tǒng)校準方法
GB/T11158-2008高溫試驗箱溫度性能測試方法
ASTME3053-17寬波段發(fā)射率計算標準
GB/T7287-2008紅外輻射加熱器測量方法

檢測設備

1.FTIR光譜儀（BrukerVERTEX80v）：波長范圍0.3-28μm
2.黑體輻射源校準裝置（Fluke4181）：溫度范圍-40℃~1200℃
3.高精度測溫儀（KEITHLEY2010）：分辨率0.001K
4.真空高溫測試艙（ThermcraftVTH-24）：極限真空度510?Pa
5.半球反射率測量系統(tǒng)（SurfaceOpticsSOC-100）：角度精度0.1
6.瞬態(tài)平面熱源儀（HotDiskTPS2500S）：導熱系數(shù)測量誤差≤3%
7.紅外熱像儀（FLIRX8580）：幀頻180Hz@640512像素
8.激光閃射儀（NETZSCHLFA467）：溫度范圍RT~2000℃
9.多軸運動控制平臺（AerotechANT130）：定位精度1μm
10.光譜輻射計（OL750-CLD）：波長精度0.05nm

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)