參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸偏差：測(cè)量實(shí)際尺寸與設(shè)計(jì)值的差異（公差范圍0.05mm~0.5mm）
2.平面度誤差：評(píng)估表面平整度（ISO12781標(biāo)準(zhǔn)≤0.1mm/m）
3.圓度/圓柱度：旋轉(zhuǎn)體徑向偏差（GB/T4380規(guī)定≤IT7級(jí)）
4.表面粗糙度：Ra值檢測(cè)（JISB0601標(biāo)準(zhǔn)0.1μm~6.3μm）
5.輪廓度公差：三維輪廓匹配度（ASMEY14.5M最大允許誤差0.15mm）

檢測(cè)范圍

1.金屬加工件：汽車齒輪/航空緊固件等黑色金屬部件
2.注塑成型件：電子外殼/醫(yī)療器械等高分子制品
3.陶瓷基材：半導(dǎo)體晶圓/絕緣子等脆性材料
4.復(fù)合材料構(gòu)件：碳纖維板/玻璃鋼制品層壓結(jié)構(gòu)
5.PCB電路板：焊盤定位/通孔位置精度檢測(cè)

檢測(cè)方法

1.接觸式測(cè)量：執(zhí)行GB/T1958-2017《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范》
2.光學(xué)掃描法：符合ISO25178表面結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)
3.激光三角測(cè)量：采用ASTME2544-11a校準(zhǔn)規(guī)范
4.CT斷層掃描：滿足VDI/VDE2630工業(yè)CT標(biāo)準(zhǔn)
5.影像測(cè)量技術(shù)：依據(jù)JJF1318-2011校準(zhǔn)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：MitutoyoCRYSTA-ApexS系列（空間精度1.2+L/300μm）
2.激光輪廓儀：KeyenceLJ-V7000（Z軸分辨率0.05μm）
3.白光干涉儀：BrukerContourGT-X8（垂直分辨率0.1nm）
4.工業(yè)CT系統(tǒng)：NikonXTH225（探測(cè)精度(5+L/100)μm）
5.全自動(dòng)影像儀：OGPSmartScopeZIP250（光學(xué)放大倍率220X）
6.圓度測(cè)量儀：TaylorHobsonTalyrond385（徑向精度0.01μm）
7.表面粗糙度儀：MahrMarsurfXR20（評(píng)估長度0.25mm~12.5mm）
8.三維激光掃描儀：FaroQuantumS（單點(diǎn)精度0.024mm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)