參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.頻率響應測試：覆蓋1MHz至10GHz頻段，測量信號幅度波動≤0.5dB

2.衰減系數(shù)測定：精度0.02dB/m（依據(jù)EIA-364-100C標準）

3.相位穩(wěn)定性分析：溫度循環(huán)（-40℃~85℃）下相位偏移＜1

4.阻抗匹配驗證：VSWR≤1.5:1（50Ω系統(tǒng)）

5.介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）：分辨率0.0001（10GHz條件下）

檢測范圍

1.高頻PCB基材：聚四氟乙烯（PTFE）、陶瓷填充復合材料

2.微波射頻器件：波導組件、同軸連接器

3.航空航天復合材料：碳纖維增強聚合物（CFRP）

4.聲學隔音材料：梯度密度聚氨酯泡沫

5.光學鍍膜介質(zhì)：多層抗反射涂層（ARCoating）

檢測方法

1.ASTME1965-2019：波導法測定材料衰減系數(shù)

2.ISO13468-1:2019：光輻射法測量透射率與反射率

3.GB/T11313.1-2018：射頻同軸連接器傳輸損耗測試規(guī)范

4.IEC61196-6:2022：同軸電纜插入損耗時域反射法

5.MIL-STD-202HMethod301B：高溫高濕環(huán)境介質(zhì)損耗測試

檢測設備

1.KeysightN5227APNA網(wǎng)絡分析儀：支持110GHz矢量網(wǎng)絡分析

2.Rohde&SchwarzFSW67頻譜分析儀：最大分析帶寬8.3GHz

3.AnritsuMT8862C無線測試儀：支持802.11ax/Wi-Fi6E協(xié)議驗證

4.Agilent4294A阻抗分析儀：40Hz至110MHz精密阻抗測量

5.TektronixDPO73304S示波器：33GHz帶寬實時采樣

6.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀：遠紅外波段材料特性分析

7.FLIRSC8000系列熱像儀：空間分辨率≤25μm@3μm波段

8.BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡：納米級表面粗糙度測量

9.ShimadzuAIM-9000紅外顯微鏡：微區(qū)反射率成像精度0.1%

10.ESPECSH-642恒溫恒濕箱：溫控精度0.3℃@-70℃~180℃

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)