參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.電容量偏差：測量標(biāo)稱值與實(shí)測值差異范圍（5%或10%）
2.耐壓強(qiáng)度：驗(yàn)證1.5倍額定電壓下持續(xù)60秒無擊穿
3.損耗角正切值（tanδ）：1kHz頻率下要求≤0.02
4.絕緣電阻：DC100V條件下≥10GΩ
5.溫度特性：-55℃~+125℃范圍內(nèi)電容變化率≤15%

檢測范圍

1.陶瓷-聚合物復(fù)合介質(zhì)電容器
2.氧化鋁基多層復(fù)合電容器
3.鈦酸鋇基高壓復(fù)合電容器
4.薄膜-金屬箔復(fù)合結(jié)構(gòu)電容器
5.納米顆粒摻雜型復(fù)合介質(zhì)電容器

檢測方法

1.GB/T2693-2016《電子設(shè)備用固定電容器》
2.ASTMD150-11(2018)介電性能標(biāo)準(zhǔn)測試方法
3.IEC60384-14:2016電子元件氣候耐久性試驗(yàn)
4.GB/T2423.3-2016恒定濕熱試驗(yàn)方法
5.MIL-PRF-123B美軍標(biāo)高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)規(guī)范

檢測設(shè)備

1.Agilent4284A精密LCR測試儀（20Hz-1MHz）
2.Chroma19032耐壓絕緣測試儀（0-5kVAC/DC）
3.ESPECSH-642恒溫恒濕箱（-70℃~+150℃）
4.KeysightB1505A功率器件分析儀（漏電流測量）
5.ThermotronSM-32熱沖擊試驗(yàn)箱（轉(zhuǎn)換時(shí)間＜15秒）
6.HiokiIM3536高頻阻抗分析儀（4MHz帶寬）
7.TektronixAFG31000任意波形發(fā)生器
8.FLIRA700紅外熱成像儀（熱分布分析）
9.MitutoyoSJ-410表面粗糙度測量儀（電極平整度）
10.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡（微觀結(jié)構(gòu)觀測）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)