參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.長(zhǎng)半軸偏差：測(cè)量實(shí)際值與理論值的軸向偏差范圍0.05mm
2.短半軸精度：三坐標(biāo)系統(tǒng)驗(yàn)證短軸尺寸公差0.03mm
3.表面曲率半徑誤差：激光掃描法測(cè)定局部曲率偏差≤0.1mm/m
4.體積偏差：水置換法計(jì)算實(shí)際體積與理論值差異≤0.5%
5.表面粗糙度：觸針式輪廓儀檢測(cè)Ra≤0.8μm

檢測(cè)范圍

1.航空航天用鈦合金整流罩橢球體
2.汽車工業(yè)聚碳酸酯燃料儲(chǔ)罐模壓件
3.醫(yī)療植入物氧化鋯陶瓷殼體
4.光學(xué)儀器熔融石英透鏡基體
5.建筑鋼結(jié)構(gòu)節(jié)點(diǎn)鑄鋼橢球連接件

檢測(cè)方法

ASTME177-20《幾何公差測(cè)量不確定度評(píng)定》
ISO10110-5:2015《光學(xué)元件表面形狀公差》
GB/T1804-2000《一般公差線性尺寸未注公差》
ASMEB89.4.19-2006《圓柱體與球體測(cè)量規(guī)范》
GB/T1184-1996《形狀和位置公差未注公差值》

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：三維幾何參數(shù)全自動(dòng)測(cè)量
2.RenishawXL-80激光干涉儀：納米級(jí)位移與形狀誤差分析
3.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：0.01μm分辨率接觸式輪廓測(cè)量
4.KeyenceVR-5000三維掃描系統(tǒng)：非接觸式曲面點(diǎn)云采集
5.ZwickRoellZHU2.5體積測(cè)定儀：精度0.1ml液體置換裝置
6.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡：500倍率表面缺陷觀測(cè)
7.Instron5985萬能試驗(yàn)機(jī)：200kN載荷下結(jié)構(gòu)強(qiáng)度測(cè)試
8-MalvernPanalyticalEmpyreanX射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)完整性驗(yàn)證

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)