參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.電氣性能：直流電阻（0.5%精度）、耐壓強(qiáng)度（AC3kV/60s）、絕緣電阻（≥100MΩ@500VDC）
2.機(jī)械特性：振動(dòng)試驗(yàn)（10-2000Hz/15g）、沖擊測(cè)試（半正弦波/50g/11ms）
3.環(huán)境適應(yīng)性：高低溫循環(huán)（-55℃~+125℃/10cycles）、濕熱老化（85℃/85%RH/1000h）
4.材料成分：鍍層厚度（XRF法0.1μm）、基材元素分析（EDS誤差≤3%）
5.尺寸精度：引腳間距公差（0.05mm）、本體尺寸偏差（0.1mm）

檢測(cè)范圍

1.電阻器：厚膜/薄膜電阻、功率型線(xiàn)繞電阻
2.電容器：陶瓷電容（MLCC）、鋁電解電容
3.傳感器：溫度傳感器（NTC/PTC）、壓力傳感器
4.繼電器：電磁繼電器（觸點(diǎn)容量≤30A）
5.連接器：板對(duì)板連接器（間距0.5-2.54mm）

檢測(cè)方法

1.IEC60068-2-6:2007振動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)方法
2.ASTMD3580-95(2021)電子元件機(jī)械沖擊試驗(yàn)
3.GB/T2423.17-2008鹽霧腐蝕試驗(yàn)
4.ISO16750-4:2010汽車(chē)電子環(huán)境應(yīng)力測(cè)試
5.GB/T4937-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械氣候試驗(yàn)

檢測(cè)設(shè)備

1.Fluke8846A六位半數(shù)字萬(wàn)用表：μΩ級(jí)電阻測(cè)量
2.ThermotronS-1.2溫濕度試驗(yàn)箱：-70℃~+180℃溫控
3.Instron5967雙柱拉力機(jī)：50kN載荷精度0.5%
4.Chroma19032耐壓測(cè)試儀：AC5kV/DC6kV輸出
5.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡：1200光學(xué)放大
6.Agilent4294A阻抗分析儀：40Hz-110MHz頻率掃描
7.BrukerQ4TASMANXRF光譜儀：ppm級(jí)元素分析
8.Kistler5015B三軸振動(dòng)臺(tái)：200g峰值加速度
9.ESPECT12鹽霧箱：連續(xù)噴霧模式1℃控溫
10.MitutoyoCMM三次元測(cè)量?jī)x：0.5μm空間精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)