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磨削檢測(cè)

2025-05-19 關(guān)鍵詞:磨削測(cè)試周期,磨削測(cè)試儀器,磨削測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
磨削檢測(cè)

磨削檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.表面粗糙度:Ra0.1-6.3μm范圍測(cè)量(ISO4287)2.平面度誤差:公差等級(jí)IT5-IT8級(jí)(GB/T1184)3.圓度偏差:≤0.005mm(ISO12181)4.微觀硬度:HV0.1-HV1載荷測(cè)試(ASTME384)5.殘余應(yīng)力:X射線衍射法2000MPa量程(GB/T7704)檢測(cè)范圍1.金屬材料:軸承鋼/不銹鋼/鈦合金精密部件2.陶瓷材料:氧化鋁/氮化硅基精密密封環(huán)3.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)樹脂基制動(dòng)盤4.硬質(zhì)合金:WC-Co系刀具切削刃口5.光學(xué)玻璃:BK7/SiC基非球面透

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.表面粗糙度:Ra0.1-6.3μm范圍測(cè)量(ISO4287)
2.平面度誤差:公差等級(jí)IT5-IT8級(jí)(GB/T1184)
3.圓度偏差:≤0.005mm(ISO12181)
4.微觀硬度:HV0.1-HV1載荷測(cè)試(ASTME384)
5.殘余應(yīng)力:X射線衍射法2000MPa量程(GB/T7704)

檢測(cè)范圍

1.金屬材料:軸承鋼/不銹鋼/鈦合金精密部件
2.陶瓷材料:氧化鋁/氮化硅基精密密封環(huán)
3.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)樹脂基制動(dòng)盤
4.硬質(zhì)合金:WC-Co系刀具切削刃口
5.光學(xué)玻璃:BK7/SiC基非球面透鏡

檢測(cè)方法

1.接觸式測(cè)量:TaylorHobsonFormTalysurfPGI系列(ISO3274)
2.白光干涉法:ZygoNewView9000系統(tǒng)(ASTME2245)
3.激光衍射法:MalvernPanalyticalMastersizer3000(GB/T19077)
4.X射線殘余應(yīng)力分析:ProtoLXRD系統(tǒng)(GB/T7704)
5.三維形貌重建:AliconaInfiniteFocusG5(ISO25178)

檢測(cè)設(shè)備

1.TaylorHobsonFormTalysurfi120:納米級(jí)表面粗糙度測(cè)量
2.MitutoyoSV-3100輪廓儀:0.05μm重復(fù)精度
3.ZygoNexviewNX2:垂直分辨率0.1nm白光干涉儀
4.BrukerD8DISCOVERXRD:殘余應(yīng)力全自動(dòng)分析系統(tǒng)
5.KeyenceVR-5000三維掃描儀:1μm測(cè)量精度
6.OlympusLEXTOLS5000激光顯微鏡:12000光學(xué)放大
7.HexagonGlobalAdvantage三坐標(biāo)機(jī):0.6+L/400μm精度
8.ZeissSurfcomFlex-Apex接觸式輪廓儀
9.PanasonicHG-C1050激光位移傳感器
10.RenishawXL-80激光干涉儀系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析磨削檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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