參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.折射率測(cè)定：1.544-1.553（鈉光589.3nm）
2.密度測(cè)試：2.650.02g/cm（靜水力學(xué)法）
3.硬度測(cè)量：莫氏硬度7級(jí)（維氏硬度800-1100HV）
4.雙折射率分析：≤0.009（偏光顯微鏡法）
5.紅外光譜特征：2500-4000cm?羥基吸收峰強(qiáng)度
6.熱膨脹系數(shù)：7.710??/℃（20-300℃）
7.介電損耗角：≤110??（1MHz）

檢測(cè)范圍

1.人造α-石英晶體（Y棒、Z塊生長(zhǎng)體）
2.水熱法合成水晶光學(xué)元件
3.焰熔法合成水晶裝飾材料
4.電子級(jí)合成水晶振子基片
5.鍍膜合成水晶光學(xué)窗口
6.摻雜型彩色合成水晶
7.工業(yè)用合成水晶粉體原料

檢測(cè)方法

1.ASTMF218-19《合成石英晶體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》
2.ISO14706:2014《表面化學(xué)分析-晶體定向測(cè)定》
3.GB/T16553-2017《珠寶玉石鑒定》
4.GB/T33501-2017《人造石英晶體規(guī)范》
5.ISO1302:2021《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)表面紋理測(cè)量》
6.GB/T18043-2013《貴金屬合金材料成分測(cè)定》
7.ASTME112-13《平均晶粒度測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)分析
2.AgilentCary630FTIR紅外光譜儀：羥基含量測(cè)定
3.MitutoyoHM-200硬度計(jì)：維氏硬度測(cè)試
4.MettlerToledoXS205電子天平（0.01mg）：密度測(cè)量
5.OlympusBX53M偏光顯微鏡：雙折射觀察
6.PerkinElmerLambda950紫外分光光度計(jì)：透射率測(cè)試
7.NetzschDIL402Expedis熱膨脹儀：熱力學(xué)性能分析
8.KeysightE4990A阻抗分析儀：介電特性測(cè)試
9.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：表面粗糙度測(cè)量
10.ShimadzuEDX-7000X熒光光譜儀：元素成分分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)