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量綱檢測(cè)

2025-05-19 關(guān)鍵詞:量綱測(cè)試案例,量綱測(cè)試機(jī)構(gòu),量綱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
量綱檢測(cè)

量綱檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.長(zhǎng)度精度測(cè)量:線性尺寸偏差(0.001mm~0.05mm)2.平面度誤差分析:表面平整度(≤0.02mm/m)3.圓度/圓柱度評(píng)定:徑向跳動(dòng)量(公差帶Φ0.005mm~Φ0.1mm)4.角度偏差檢測(cè):角分度誤差(15"~2')5.表面粗糙度測(cè)試:Ra值(0.1μm~25μm)、Rz值(0.5μm~100μm)6.螺紋參數(shù)驗(yàn)證:中徑公差(4H/6g級(jí))、螺距累積誤差(≤0.02mm/25mm)7.齒輪嚙合特性:齒向偏差(Fβ≤0.008mm)、齒形誤差(ff≤0.005mm)檢測(cè)范圍1.金屬

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.長(zhǎng)度精度測(cè)量:線性尺寸偏差(0.001mm~0.05mm)
2.平面度誤差分析:表面平整度(≤0.02mm/m)
3.圓度/圓柱度評(píng)定:徑向跳動(dòng)量(公差帶Φ0.005mm~Φ0.1mm)
4.角度偏差檢測(cè):角分度誤差(15"~2')
5.表面粗糙度測(cè)試:Ra值(0.1μm~25μm)、Rz值(0.5μm~100μm)
6.螺紋參數(shù)驗(yàn)證:中徑公差(4H/6g級(jí))、螺距累積誤差(≤0.02mm/25mm)
7.齒輪嚙合特性:齒向偏差(Fβ≤0.008mm)、齒形誤差(ff≤0.005mm)

檢測(cè)范圍

1.金屬材料:鋁合金結(jié)構(gòu)件(航空框架)、不銹鋼精密軸件(醫(yī)療設(shè)備)
2.工程塑料:PEEK齒輪組(機(jī)器人關(guān)節(jié))、PTFE密封環(huán)(化工閥門)
3.陶瓷基復(fù)合材料:氮化硅軸承球(高速主軸)、碳化硅噴嘴(半導(dǎo)體蝕刻)
4.電子元器件:PCB金手指尺寸(服務(wù)器主板)、連接器插針共面度(5G基站)
5.光學(xué)器件:透鏡曲率半徑(AR/VR鏡片)、棱鏡角度公差(激光測(cè)距模組)

檢測(cè)方法

1.ASTME177-20:尺寸公差測(cè)量不確定度評(píng)定規(guī)范
2.ISO4287:1997:表面粗糙度參數(shù)定義與測(cè)量程序
3.GB/T1958-2017:產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀與位置公差檢測(cè)規(guī)定
4.ASMEB89.3.1-2012:圓柱度測(cè)量方法與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
5.ISO/TR14638:2015:GPS矩陣模型在復(fù)雜幾何量中的應(yīng)用
6.GB/T13924-2008:漸開線圓柱齒輪精度檢驗(yàn)規(guī)范
7.DIN876-2:1983:角度塊規(guī)校準(zhǔn)與測(cè)量方法

檢測(cè)設(shè)備

1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī):MitutoyoCRYSTA-ApexS系列(空間精度0.6+L/400μm)
2.激光掃描儀:HexagonAbsoluteArm7520SI(采樣速率190,000點(diǎn)/秒)
3.圓度儀:TaylorHobsonTalyrond585LT(徑向分辨率0.8nm)
4.輪廓儀:MahrMarSurfLD260(Z軸量程50mm/分辨率10nm)
5.光學(xué)投影儀:NikonVMR-6555(放大倍率50X~500X)
6.齒輪測(cè)量中心:KlingelnbergP65(模數(shù)范圍0.5~15mm)
7.白光干涉儀:ZygoNewView9000(垂直分辨率0.1nm)
8.激光跟蹤儀:LeicaAT960-MR(最大測(cè)距80m/精度15μm+6μm/m)
9.三維掃描系統(tǒng):GOMATOSQ12(測(cè)量體積1m/點(diǎn)距0.02mm)
10.納米級(jí)測(cè)長(zhǎng)機(jī):SIP412M(最大行程200mm/不確定度0.02μm)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析量綱檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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