參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.長(zhǎng)度精度測(cè)量：線性尺寸偏差（0.001mm~0.05mm）
2.平面度誤差分析：表面平整度（≤0.02mm/m）
3.圓度/圓柱度評(píng)定：徑向跳動(dòng)量（公差帶Φ0.005mm~Φ0.1mm）
4.角度偏差檢測(cè)：角分度誤差（15"~2'）
5.表面粗糙度測(cè)試：Ra值（0.1μm~25μm）、Rz值（0.5μm~100μm）
6.螺紋參數(shù)驗(yàn)證：中徑公差（4H/6g級(jí)）、螺距累積誤差（≤0.02mm/25mm）
7.齒輪嚙合特性：齒向偏差（Fβ≤0.008mm）、齒形誤差（ff≤0.005mm）

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：鋁合金結(jié)構(gòu)件（航空框架）、不銹鋼精密軸件（醫(yī)療設(shè)備）
2.工程塑料：PEEK齒輪組（機(jī)器人關(guān)節(jié)）、PTFE密封環(huán)（化工閥門）
3.陶瓷基復(fù)合材料：氮化硅軸承球（高速主軸）、碳化硅噴嘴（半導(dǎo)體蝕刻）
4.電子元器件：PCB金手指尺寸（服務(wù)器主板）、連接器插針共面度（5G基站）
5.光學(xué)器件：透鏡曲率半徑（AR/VR鏡片）、棱鏡角度公差（激光測(cè)距模組）

檢測(cè)方法

1.ASTME177-20：尺寸公差測(cè)量不確定度評(píng)定規(guī)范
2.ISO4287:1997：表面粗糙度參數(shù)定義與測(cè)量程序
3.GB/T1958-2017：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀與位置公差檢測(cè)規(guī)定
4.ASMEB89.3.1-2012：圓柱度測(cè)量方法與驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
5.ISO/TR14638:2015：GPS矩陣模型在復(fù)雜幾何量中的應(yīng)用
6.GB/T13924-2008：漸開線圓柱齒輪精度檢驗(yàn)規(guī)范
7.DIN876-2:1983：角度塊規(guī)校準(zhǔn)與測(cè)量方法

檢測(cè)設(shè)備

1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：MitutoyoCRYSTA-ApexS系列（空間精度0.6+L/400μm）
2.激光掃描儀：HexagonAbsoluteArm7520SI（采樣速率190,000點(diǎn)/秒）
3.圓度儀：TaylorHobsonTalyrond585LT（徑向分辨率0.8nm）
4.輪廓儀：MahrMarSurfLD260（Z軸量程50mm/分辨率10nm）
5.光學(xué)投影儀：NikonVMR-6555（放大倍率50X~500X）
6.齒輪測(cè)量中心：KlingelnbergP65（模數(shù)范圍0.5~15mm）
7.白光干涉儀：ZygoNewView9000（垂直分辨率0.1nm）
8.激光跟蹤儀：LeicaAT960-MR（最大測(cè)距80m/精度15μm+6μm/m）
9.三維掃描系統(tǒng)：GOMATOSQ12（測(cè)量體積1m/點(diǎn)距0.02mm）
10.納米級(jí)測(cè)長(zhǎng)機(jī)：SIP412M（最大行程200mm/不確定度0.02μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)