參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.環(huán)層結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性：軸向偏移量≤0.03弧秒/年，徑向密度梯度5%

2.物質(zhì)成分分析：H₂O冰含量≥85%，CH₄結(jié)晶度（0.2-1.5μm吸收峰）

3.熱輻射特性：8-40μm波段發(fā)射率ε≥0.920.03

4.動(dòng)態(tài)軌道參數(shù)：共振頻率Δν≤0.001Hz/km³

5.微流星體撞擊統(tǒng)計(jì)：粒徑＞1mm碎屑密度＜10^-6/km³

檢測(cè)范圍

1.航天器外部防護(hù)層材料：碳纖維/氮化硼復(fù)合板（厚度0.5-3mm）

2.深空光學(xué)系統(tǒng)：離軸拋物面鏡（曲率半徑＞2000mm）

3.耐低溫潤(rùn)滑劑：全氟聚醚基材料（-200℃粘度＞1500cSt）

4.輻射屏蔽膜層：鉭/鎢多層結(jié)構(gòu)（總厚度50-200μm）

5.星載光譜儀校準(zhǔn)組件：氟化鎂棱鏡（折射率1.380.005）

檢測(cè)方法

1.ASTME259-22漫反射率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試法（雙向反射分布函數(shù)）

2.ISO18451-6:2020低溫環(huán)境材料機(jī)械性能試驗(yàn)規(guī)程

3.GB/T30111-2013空間光學(xué)元件面形誤差干涉測(cè)量方法

4.ISO21348:2007空間環(huán)境太陽(yáng)紫外光譜輻照度測(cè)定

5.GB/T38945-2020深空探測(cè)用紅外焦平面組件測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀：4cm^-1分辨率，覆蓋7800-350cm^-1

2.KeysightN9048BUXA信號(hào)分析儀：110GHz帶寬，相位噪聲-148dBc/Hz@10kHz

3.BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡：分辨率0.1nm，最大掃描范圍90μm

4.VaisalaHUMICAPHMT334露點(diǎn)儀：測(cè)量范圍-80~+20℃，精度2℃

5.Agilent8900ICP-MS/MS：質(zhì)量數(shù)范圍2-270amu，檢出限＜0.1ng/L

6.ZygoVerifireMST干涉儀：λ/20PV精度，600mm孔徑測(cè)量能力

7.Instron68TM-30低溫試驗(yàn)機(jī)：-269~+350℃溫控，300kN載荷

8.OphirVega激光功率計(jì)：30mW-30kW量程，響應(yīng)時(shí)間20μs

9.FEIHeliosG4UX聚焦離子束：0.7nm分辨率，50kV加速電壓

10.LabsphereLMS-7600光譜反射系統(tǒng)：250-2500nm波段，1%絕對(duì)精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)