參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.放電電壓：測(cè)量范圍0.5-50kV1%FS

2.峰值電流：檢測(cè)精度0.5A（0-200A量程）

3.脈沖寬度：10ns-100μs時(shí)間分辨率

4.放電能量：0.1mJ-10J能量測(cè)量誤差≤3%

5.光譜強(qiáng)度：200-900nm波長(zhǎng)范圍采集精度0.02nm

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：鋁合金/鈦合金表面缺陷檢測(cè)

2.電子元件：PCB板微孔導(dǎo)通性驗(yàn)證

3.絕緣材料：陶瓷基板擊穿強(qiáng)度測(cè)試

4.半導(dǎo)體晶圓：摻雜均勻性分析

5.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料層間結(jié)合度評(píng)估

檢測(cè)方法

ASTME3047-19：金屬材料火花放電光譜分析法

ISO17025:2017：電氣特性測(cè)試通用要求

GB/T4336-2016：碳素鋼和中低合金鋼火花源發(fā)射光譜法

IEC60672-3:1997：絕緣材料耐電痕化試驗(yàn)

GB/T14233.2-2005：醫(yī)用高分子材料放電特性測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.Agilent33500B系列波形發(fā)生器：輸出50MHz帶寬脈沖信號(hào)

2.TektronixMDO3104示波器：1GHz帶寬采樣率5GS/s

3.KeysightU1231A高壓探頭：額定電壓40kVCATIII

4.ThermoScientificiCAP7400：全譜直讀光譜儀（185-900nm）

5.HIOKIPW3390功率分析儀：基本精度0.06%支持500kHz帶寬

6.FLIRA615紅外熱像儀：640480分辨率測(cè)溫范圍-40℃~650℃

7.BrukerQ4TASMAN直讀光譜儀：氬氣環(huán)境火花臺(tái)系統(tǒng)

8.OLYMPUSIPLEXGLite工業(yè)內(nèi)窺鏡：4mm探頭直徑用于微區(qū)觀測(cè)

9.AMETEKCS-800碳硫分析儀：高頻感應(yīng)爐配套火花室

10.ZEISSAxioImager.A2m金相顯微鏡：500放大倍率表面形貌分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)