參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.位移精度偏差：測(cè)量實(shí)際位移與理論值的差異范圍（0.01mm~0.1mm）
2.平面度公差：評(píng)估基準(zhǔn)面的平整度（≤0.02mm/m）
3.平行度誤差：檢測(cè)運(yùn)動(dòng)軌跡與基準(zhǔn)軸線的偏移量（≤0.03mm/300mm）
4.輪廓匹配度：分析曲面輪廓與CAD模型的吻合度（RMS≤5μm）
5.重復(fù)定位精度：連續(xù)10次定位測(cè)量的最大離散值（≤0.005mm）

檢測(cè)范圍

1.金屬結(jié)構(gòu)件：包含鋁合金框架、鈦合金傳動(dòng)部件等
2.復(fù)合材料部件：碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）構(gòu)件
3.精密導(dǎo)軌系統(tǒng)：直線電機(jī)導(dǎo)軌、滾珠絲杠副
4.注塑成型件：工程塑料齒輪箱殼體
5.光學(xué)定位組件：激光掃描振鏡基座

檢測(cè)方法

1.激光干涉法：依據(jù)ISO230-2:2014測(cè)量直線軸定位精度
2.三坐標(biāo)比對(duì)法：執(zhí)行GB/T16857-2018標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行三維形位公差分析
3.白光干涉術(shù)：按ASTME2309-05測(cè)定微觀表面輪廓
4.數(shù)字圖像相關(guān)法：遵循ISO21350:2020進(jìn)行全場(chǎng)位移測(cè)量
5.接觸式探針?lè)ǎ翰捎肎B/T11337-2004評(píng)估幾何形狀誤差

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalS三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：配備HP-O掃描探頭（測(cè)量精度0.6+L/400μm）
2.RenishawXL-80激光干涉儀：線性測(cè)量分辨率0.001μm
3.ZYGONewView9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm
4.GOMARAMIS12M數(shù)字圖像系統(tǒng)：三維應(yīng)變測(cè)量精度0.005%
5.MitutoyoCrysta-ApexS坐標(biāo)機(jī)：觸發(fā)式測(cè)頭重復(fù)性0.3μm
6.KEYENCELJ-V7000線激光掃描儀：Z軸分辨率0.05μm
7.ZEISSACCURAII多傳感器系統(tǒng)：復(fù)合式測(cè)量平臺(tái)
8.OGPSmartScopeFlash500影像儀：光學(xué)放大倍率200X
9.FAROQuantumS臂測(cè)量機(jī)：便攜式7軸測(cè)量系統(tǒng)
10.NikonNEXIVVMZ-S3520視頻測(cè)量?jī)x：雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)