分光比檢測摘要:檢測項目1.波長范圍覆蓋性:1260-1650nm全波段掃描測試2.插入損耗一致性:單通道損耗≤0.3dB@1550nm3.分光比偏差:1.5%典型值(40:60至60:40區(qū)間)4.偏振相關損耗:PDL≤0.1dB@C波段5.溫度穩(wěn)定性:-40℃~+85℃循環(huán)測試中分光比波動≤2%檢測范圍1.PLC平面波導型光纖分路器(1N型)2.FBT熔融拉錐型光纖耦合器(22型)3.MEMS可調光衰減器(VOA)組件4.DWDM密集波分復用器通道片5.保偏光纖環(huán)形器三端口器件檢測方法ASTME275-08(2017
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1.波長范圍覆蓋性:1260-1650nm全波段掃描測試
2.插入損耗一致性:單通道損耗≤0.3dB@1550nm
3.分光比偏差:1.5%典型值(40:60至60:40區(qū)間)
4.偏振相關損耗:PDL≤0.1dB@C波段
5.溫度穩(wěn)定性:-40℃~+85℃循環(huán)測試中分光比波動≤2%
1.PLC平面波導型光纖分路器(1N型)
2.FBT熔融拉錐型光纖耦合器(22型)
3.MEMS可調光衰減器(VOA)組件
4.DWDM密集波分復用器通道片
5.保偏光纖環(huán)形器三端口器件
ASTME275-08(2017)分光光度法測量標準規(guī)程
ISO13694:2018光學系統(tǒng)激光束功率分布測試方法
GB/T9771-2020通信用單模光纖系列技術要求
GB/T15972.42-2021光纖試驗方法規(guī)范第42部分:傳輸特性測量
IEC61300-3-2:2009光纖互連裝置基本試驗第3-2部分:衰減測量
1.AnritsuMP2100B光波分析儀:支持0.001dB分辨率的光功率測量
2.YokogawaAQ2200-211可調諧光源:波長精度5pm@1550nm
3.EXFOFTB-880偏振控制器:實現(xiàn)SOP全邦加球掃描
4.KeysightN7788B光學元件分析儀:內置高精度功率計模塊
5.LunaOVA5000分布式偏振分析儀:支持PMD精確測量
6.ThorlabsTCLDM9溫控箱:溫控精度0.5℃
7.Agilent81600B可調激光源:輸出功率穩(wěn)定性0.002dB/h
8.ILXLightwaveFPM-8220多通道功率計:8通道同步采樣
9.SantecTSL-570高穩(wěn)定光源:邊模抑制比>60dB
10.ViaviMTS-8000全功能測試平臺:集成IL/RL/PDL綜合測試模塊
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析分光比檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
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