參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.腐蝕面積測定：采用圖像分析法測量銀片表面腐蝕區(qū)域占比（精度0.5%）
2.質(zhì)量損失分析：使用萬分之一天平記錄試樣失重（分辨率0.1mg）
3.表面形貌表征：SEM掃描電鏡觀測微觀結(jié)構(gòu)變化（放大倍數(shù)10,000）
4.元素成分分析：EDS能譜儀檢測腐蝕產(chǎn)物元素組成（檢出限0.1wt%）
5.電化學(xué)參數(shù)測試：測量極化曲線與阻抗譜（頻率范圍10μHz-1MHz）

檢測范圍

1.金屬基復(fù)合材料：包括不銹鋼-銀復(fù)合板材、鈦合金鍍銀件等
2.電子封裝材料：半導(dǎo)體用銀漿、鍵合銀絲等電子級材料
3.工業(yè)催化劑：含銀催化劑的載體材料及活性組分
4.醫(yī)療器械：牙科用銀汞合金、抗菌涂層器械
5.文物保護：古代銀器及含銀文物的腐蝕狀態(tài)評估

檢測方法

1.ASTMB117-19：鹽霧試驗標(biāo)準(zhǔn)（測試周期24-2000h）
2.ISO9227:2017：中性鹽霧/酸性鹽霧加速腐蝕試驗
3.GB/T1771-2007：色漆和清漆耐中性鹽霧性能測定
4.ASTMG5-14：動電位極化電阻測量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
5.GB/T4334-2020：不銹鋼硫酸-硫酸銅腐蝕試驗方法

檢測設(shè)備

1.Q-FOGCCT1100鹽霧試驗箱：可編程循環(huán)腐蝕測試（溫度范圍15-60℃）
2.ZenniumPro電化學(xué)工作站：支持多頻段阻抗譜測量（電流分辨率10pA）
3.SartoriusCPA225D分析天平：最大稱量220g（重復(fù)性0.1mg）
4.FEINovaNanoSEM450場發(fā)射電鏡：二次電子分辨率1.0nm@15kV
5.BrukerQUANTAXEDS系統(tǒng)：元素分析范圍B5-U92（能量分辨率129eV）
6.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：20-6000倍連續(xù)變倍觀察系統(tǒng)
7.Metrohm905Titrando自動滴定儀：電位滴定精度0.1mV
8.MettlerToledoSevenExcellencepH計：測量精度0.001pH
9.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：檢出限低至ppt級
10.HitachiUH4150紫外分光光度計：波長范圍185-900nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)