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淺影調(diào)檢測(cè)

2025-05-20 關(guān)鍵詞:淺影調(diào)測(cè)試周期,淺影調(diào)測(cè)試機(jī)構(gòu),淺影調(diào)測(cè)試儀器 相關(guān):
淺影調(diào)檢測(cè)

淺影調(diào)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.色階過(guò)渡偏差:ΔE≤1.5(CIELAB標(biāo)準(zhǔn)),測(cè)量間隔0.1mm2.表面反射率梯度:0.05-0.95反射系數(shù)范圍內(nèi)變化率≤3%/mm3.光譜響應(yīng)一致性:380-780nm波段偏差≤2nm4.微觀紋理干擾度:Ra≤0.2μm(ISO4287標(biāo)準(zhǔn))5.透射光衰減系數(shù):550nm波長(zhǎng)下衰減斜率≤0.15dB/mm檢測(cè)范圍1.精密注塑件:聚碳酸酯/ABS合金制品表面處理層2.磁控濺射鍍膜:厚度50-200nm的Al?O?/TiN復(fù)合鍍層3.微弧氧化陶瓷層:鋁合金基體10-30μm氧化膜4.絲網(wǎng)印刷

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.色階過(guò)渡偏差:ΔE≤1.5(CIELAB標(biāo)準(zhǔn)),測(cè)量間隔0.1mm

2.表面反射率梯度:0.05-0.95反射系數(shù)范圍內(nèi)變化率≤3%/mm

3.光譜響應(yīng)一致性:380-780nm波段偏差≤2nm

4.微觀紋理干擾度:Ra≤0.2μm(ISO4287標(biāo)準(zhǔn))

5.透射光衰減系數(shù):550nm波長(zhǎng)下衰減斜率≤0.15dB/mm

檢測(cè)范圍

1.精密注塑件:聚碳酸酯/ABS合金制品表面處理層

2.磁控濺射鍍膜:厚度50-200nm的Al?O?/TiN復(fù)合鍍層

3.微弧氧化陶瓷層:鋁合金基體10-30μm氧化膜

4.絲網(wǎng)印刷油墨:300-1200目網(wǎng)版印刷圖案層

5.光學(xué)級(jí)PET薄膜:厚度125-250μm的硬化涂層材料

檢測(cè)方法

ASTME308-2022《標(biāo)準(zhǔn)顏色測(cè)量方法》:采用d/8幾何條件測(cè)量

ISO13655:2017《印刷技術(shù)光譜測(cè)量》:45環(huán)形照明系統(tǒng)配置

GB/T3979-2008《物體色測(cè)量方法》:規(guī)定0/d測(cè)量幾何條件

ASTMD523-2014《鏡面光澤度標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》:60入射角測(cè)量規(guī)范

GB/T9754-2007《色漆清漆鏡面光澤測(cè)定》:20/60/85多角度測(cè)量

檢測(cè)設(shè)備

1.X-RiteCi7800分光光度計(jì):0/45雙測(cè)量幾何結(jié)構(gòu),10nm分辨率

2.BYK-mac多角度分光儀:15/45/110三角度同步測(cè)量系統(tǒng)

3.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡:5000萬(wàn)像素CMOS,20-5000倍連續(xù)變焦

4.OceanInsightFX系列光纖光譜儀:200-2500nm寬譜段探測(cè)

5.ZeissAxioImagerM2m金相顯微鏡:微分干涉對(duì)比(DIC)模塊

6.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀:16μm量程,0.01μm分辨率

7.HunterLabUltraScanVIS分光測(cè)色儀:雙光束設(shè)計(jì),D65光源模擬

8.BrukerContourGT-X3白光干涉儀:垂直分辨率0.1nm

9.KonicaMinoltaCM-26dG分光測(cè)色計(jì):脈沖氙燈光源系統(tǒng)

10.OlympusLEXTOLS5000激光顯微鏡:405nm激光,120nm橫向分辨率

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析淺影調(diào)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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