參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.色階過(guò)渡偏差：ΔE≤1.5（CIELAB標(biāo)準(zhǔn)），測(cè)量間隔0.1mm

2.表面反射率梯度：0.05-0.95反射系數(shù)范圍內(nèi)變化率≤3%/mm

3.光譜響應(yīng)一致性：380-780nm波段偏差≤2nm

4.微觀紋理干擾度：Ra≤0.2μm（ISO4287標(biāo)準(zhǔn)）

5.透射光衰減系數(shù)：550nm波長(zhǎng)下衰減斜率≤0.15dB/mm

檢測(cè)范圍

1.精密注塑件：聚碳酸酯/ABS合金制品表面處理層

2.磁控濺射鍍膜：厚度50-200nm的Al?O?/TiN復(fù)合鍍層

3.微弧氧化陶瓷層：鋁合金基體10-30μm氧化膜

4.絲網(wǎng)印刷油墨：300-1200目網(wǎng)版印刷圖案層

5.光學(xué)級(jí)PET薄膜：厚度125-250μm的硬化涂層材料

檢測(cè)方法

ASTME308-2022《標(biāo)準(zhǔn)顏色測(cè)量方法》：采用d/8幾何條件測(cè)量

ISO13655:2017《印刷技術(shù)光譜測(cè)量》：45環(huán)形照明系統(tǒng)配置

GB/T3979-2008《物體色測(cè)量方法》：規(guī)定0/d測(cè)量幾何條件

ASTMD523-2014《鏡面光澤度標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》：60入射角測(cè)量規(guī)范

GB/T9754-2007《色漆清漆鏡面光澤測(cè)定》：20/60/85多角度測(cè)量

檢測(cè)設(shè)備

1.X-RiteCi7800分光光度計(jì)：0/45雙測(cè)量幾何結(jié)構(gòu)，10nm分辨率

2.BYK-mac多角度分光儀：15/45/110三角度同步測(cè)量系統(tǒng)

3.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000萬(wàn)像素CMOS,20-5000倍連續(xù)變焦

4.OceanInsightFX系列光纖光譜儀：200-2500nm寬譜段探測(cè)

5.ZeissAxioImagerM2m金相顯微鏡：微分干涉對(duì)比(DIC)模塊

6.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：16μm量程,0.01μm分辨率

7.HunterLabUltraScanVIS分光測(cè)色儀：雙光束設(shè)計(jì),D65光源模擬

8.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm

9.KonicaMinoltaCM-26dG分光測(cè)色計(jì)：脈沖氙燈光源系統(tǒng)

10.OlympusLEXTOLS5000激光顯微鏡：405nm激光,120nm橫向分辨率

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)