參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.表面形貌分析：三維粗糙度Ra≤0.1μm，微裂紋分辨率≥200nm
2.元素組成測(cè)定：輕元素（H/He）檢出限≤50ppm，重元素（Fe/Ti）精度0.5%
3.輻射劑量計(jì)量：γ射線測(cè)量范圍10μGy-100kGy，中子通量分辨率3%
4.熱物性測(cè)試：導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量精度1.5%，比熱容重復(fù)性誤差≤0.8%
5.電磁特性分析：介電常數(shù)測(cè)試頻率1MHz-40GHz，磁導(dǎo)率誤差2%

檢測(cè)范圍

1.月球風(fēng)化層模擬物（JSC-1A/BP-1類(lèi)月壤）
2.航天器熱控涂層（SiO2/Al2O3基復(fù)合鍍層）
3.月面巡視器輪胎材料（金屬-陶瓷復(fù)合結(jié)構(gòu)）
4.輻射防護(hù)復(fù)合材料（聚乙烯/碳化硼層壓板）
5.月基太陽(yáng)能電池板（GaInP/GaAs/Ge三結(jié)電池）

檢測(cè)方法

1.ASTME1508-12表面形貌激光干涉測(cè)量法
2.ISO14707:2021輝光放電質(zhì)譜元素分析法
3.GB/T26168.1-2010電子順磁共振劑量重建技術(shù)
4.ISO22007-4:2017瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱測(cè)試
5.GB/T17626.21-2023高頻介質(zhì)諧振腔測(cè)量法
6.ASTME595-22真空出氣特性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1.ZygoNewView9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm，最大掃描區(qū)域100mm100mm
2.ThermoScientificARLPERFORM'XX射線熒光光譜儀：Rh靶4kW發(fā)生器，硅漂移探測(cè)器
3BrukerEMXplusEPR譜儀：磁場(chǎng)范圍0-1.5T，Q波段微波系統(tǒng)（34GHz）
4NetzschLFA467HyperFlash激光導(dǎo)熱儀：溫度范圍-125℃-1100℃，數(shù)據(jù)采集速率1MHz
5KeysightN5227B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：頻率范圍10MHz-67GHz，動(dòng)態(tài)范圍135dB
6FEIHeliosG4UX聚焦離子束電鏡：束流范圍1pA-65nA，EDS能譜分辨率127eV
7CanberraFalcon5000便攜式γ譜儀：HPGe探測(cè)器效率40%，能量分辨率≤1.9keV@1.33MeV
8MettlerToledoTGA/DSC3+同步熱分析儀：稱量精度0.1μg，溫度精度0.2℃
9Agilent8900ICP-MS/MS三重四極桿質(zhì)譜：質(zhì)量范圍2-270amu，檢出限≤0.1ppt
10Instron5985萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：最大載荷150kN，位移分辨率0.003μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)