綠簾石角閃巖相檢測摘要:檢測項目1.綠簾石含量測定(EPMA/WDS定量分析,精度0.5wt%)2.角閃石類型鑒別(AlⅥ含量0.2-0.8apfu)3.石英多硅白云母溫壓計(Si含量3.1-3.5pfu)4.石榴石-黑云母Fe-Mg分配系數(KD=1.5-4.2)5.全巖主量元素XRF分析(SiO?45-60wt%)檢測范圍1.區(qū)域變質作用形成的綠片巖-角閃巖相過渡帶樣品2.俯沖帶高壓變質榴輝巖退變產物3.花崗質片麻巖中的角閃石-綠簾石脈體4.基性火山巖低級變質改造產物5.構造剪切帶糜棱巖化變質基質檢測方法1.ASTMD551
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1.綠簾石含量測定(EPMA/WDS定量分析,精度0.5wt%)
2.角閃石類型鑒別(AlⅥ含量0.2-0.8apfu)
3.石英多硅白云母溫壓計(Si含量3.1-3.5pfu)
4.石榴石-黑云母Fe-Mg分配系數(KD=1.5-4.2)
5.全巖主量元素XRF分析(SiO?45-60wt%)
1.區(qū)域變質作用形成的綠片巖-角閃巖相過渡帶樣品
2.俯沖帶高壓變質榴輝巖退變產物
3.花崗質片麻巖中的角閃石-綠簾石脈體
4.基性火山巖低級變質改造產物
5.構造剪切帶糜棱巖化變質基質
1.ASTMD5519-15《變質巖礦物相XRD定量分析方法》
2.ISO22282-4:2020《巖石薄片顯微照相規(guī)范》
3.GB/T17412.3-1998《巖石分類命名方案變質巖》
4.GB/T14506.30-2010《硅酸鹽巖石化學分析方法》
5.ISO5725-6:1994《礦物電子探針分析準確度驗證》
1.RigakuSmartLabX射線衍射儀(物相定量分析)
2.JEOLJXA-8230電子探針顯微分析儀(微區(qū)成分測定)
3.ZeissAxioImagerA2m偏光顯微鏡(結構特征觀測)
4.ThermoARLPERFORM'XX熒光光譜儀(主量元素分析)
5.BrukerQuantax200EDS能譜系統(tǒng)(元素面分布掃描)
6.LeicaEMTXP精密切割機(定向薄片制備)
7.GatanMira3場發(fā)射掃描電鏡(納米級結構表征)
8.ShimadzuEPMA-8050G電子探針(微量元素定量)
9.OlympusBX53M巖相顯微鏡(正交偏光觀測)
10.PerkinElmerNexION350DICP-MS(稀土元素測定)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析綠簾石角閃巖相檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師