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數(shù)據(jù)寄存器檢測

2025-05-21 關(guān)鍵詞:數(shù)據(jù)寄存器測試周期,數(shù)據(jù)寄存器測試范圍,數(shù)據(jù)寄存器測試方法 相關(guān):
數(shù)據(jù)寄存器檢測

數(shù)據(jù)寄存器檢測摘要:檢測項目1.輸入/輸出電壓范圍:驗證工作電壓在5%公差帶內(nèi)的穩(wěn)定性2.時鐘頻率穩(wěn)定性:測試10MHz-200MHz范圍內(nèi)時鐘抖動≤0.1ns3.數(shù)據(jù)保持時間:測量斷電后數(shù)據(jù)保留時長≥72小時4.傳輸延遲時間:驗證上升/下降沿延遲≤3.5ns5.抗干擾能力:執(zhí)行15kV靜電放電(ESD)和4kV電快速瞬變(EFT)測試檢測范圍1.嵌入式系統(tǒng)用32位/64位寄存器2.FPGA芯片內(nèi)部配置寄存器3.DDR4/DDR5內(nèi)存模塊地址寄存器4.工業(yè)PLC控制系統(tǒng)的狀態(tài)寄存器5.汽車ECU單元的數(shù)據(jù)緩存寄存器檢測方法1

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.輸入/輸出電壓范圍:驗證工作電壓在5%公差帶內(nèi)的穩(wěn)定性
2.時鐘頻率穩(wěn)定性:測試10MHz-200MHz范圍內(nèi)時鐘抖動≤0.1ns
3.數(shù)據(jù)保持時間:測量斷電后數(shù)據(jù)保留時長≥72小時
4.傳輸延遲時間:驗證上升/下降沿延遲≤3.5ns
5.抗干擾能力:執(zhí)行15kV靜電放電(ESD)和4kV電快速瞬變(EFT)測試

檢測范圍

1.嵌入式系統(tǒng)用32位/64位寄存器
2.FPGA芯片內(nèi)部配置寄存器
3.DDR4/DDR5內(nèi)存模塊地址寄存器
4.工業(yè)PLC控制系統(tǒng)的狀態(tài)寄存器
5.汽車ECU單元的數(shù)據(jù)緩存寄存器

檢測方法

1.GB/T17554-2008《半導(dǎo)體器件數(shù)字集成電路測試方法》
2.IEC60749-26:2019《半導(dǎo)體器件機械和環(huán)境試驗方法》
3.JESD22-A114F《靜電放電敏感度測試》
4.ISO7637-2:2011《道路車輛電氣干擾傳導(dǎo)和耦合》
5.MIL-STD-883KMethod3015.8《輻射敏感度測量》

檢測設(shè)備

1.KeysightDSAZ634A示波器:100GHz帶寬時序分析
2.TektronixAFG3252C信號發(fā)生器:雙通道波形合成
3.Chroma3380電源模塊測試系統(tǒng):動態(tài)負載調(diào)整
4.ThermotronESX-12M環(huán)境試驗箱:-70℃~180℃溫變測試
5.EMTestUCS500N6脈沖群發(fā)生器:30A/5kHz干擾模擬
6.AdvantestT2000自動測試機:1024通道并行測量
7.Fluke289真有效值萬用表:0.0015%直流精度測量
8.AgilentB1500A半導(dǎo)體分析儀:pA級漏電流檢測
9.OmicronLabBode100網(wǎng)絡(luò)分析儀:10MHz阻抗特性分析
10.HBMGenesisHighSpeed數(shù)采系統(tǒng):1MS/s同步采樣

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析數(shù)據(jù)寄存器檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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