參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.碳酸鈣含量測(cè)定：采用鹽酸溶解法測(cè)定CaCO?占比（≥85%為合格基準(zhǔn)）
2.孔隙度分析：氦氣孔隙率計(jì)測(cè)量總孔隙率（范圍0.5-25%）及有效孔隙率
3.抗壓強(qiáng)度測(cè)試：液壓伺服試驗(yàn)機(jī)測(cè)定單軸抗壓強(qiáng)度（標(biāo)準(zhǔn)值≥50MPa）
4.微量元素譜：ICP-MS測(cè)定Sr、Mg、Fe等元素含量（精度0.01ppm）
5.生物碎屑鑒定：薄片顯微分析生物碎屑類型及占比（誤差2%）

檢測(cè)范圍

1.奧陶系生物碎屑灰?guī)r（含腕足類/三葉蟲化石）
2.白堊系礁灰?guī)r（含珊瑚/層孔蟲骨架結(jié)構(gòu)）
3.泥晶灰?guī)r（粒徑≤4μm的微晶方解石基質(zhì)）
4.鮞粒灰?guī)r（核心直徑0.2-2mm的同心層結(jié)構(gòu)）
5.疊層石灰?guī)r（微生物席成因的紋層構(gòu)造）

檢測(cè)方法

1.ASTMD4404-18《巖石孔隙體積測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
2.ISO17892-7:2017《巖石單軸抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)》
3.GB/T3286.1-2012《石灰石化學(xué)分析方法》
4.ASTMD5759-12《巖石薄片制備標(biāo)準(zhǔn)指南》
5.GB/T17412.3-1998《沉積巖巖石分類命名》

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalX'Pert3PowderX射線衍射儀（礦物相定量分析）
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS（痕量元素檢測(cè)）
3.INSTRON5985萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)（力學(xué)性能測(cè)試）
4.MicromeriticsAutoPoreV9600孔隙率分析儀（孔徑分布測(cè)定）
5.ZeissAxioImagerA2m偏光顯微鏡（薄片顯微觀察）
6.BrukerD8DISCOVERX射線熒光光譜儀（主量元素分析）
7.ShimadzuHMV-G21顯微硬度計(jì)（維氏硬度測(cè)試）
8.LeicaEMACE600鍍膜儀（電鏡樣品制備）
9.FEIQuanta650FEG掃描電鏡（微區(qū)形貌觀測(cè)）
10.MettlerToledoXP205分析天平（稱量精度0.01mg）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)