參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.表面電位分布：測(cè)量范圍2000mV，分辨率0.1mV
2.極化曲線測(cè)試：掃描速率0.1-100mV/s，電位范圍-1500mV至+2000mV
3.腐蝕電流密度：精度1nA/cm，溫度范圍20-80℃
4.膜層電阻率：測(cè)量頻率10mHz-1MHz，阻抗范圍1Ωcm至10MΩcm
5.開路電位穩(wěn)定性：監(jiān)測(cè)時(shí)長(zhǎng)24-168h，數(shù)據(jù)采樣間隔1s-60min

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：不銹鋼、鋁合金、鈦合金等防腐蝕金屬
2.半導(dǎo)體材料：硅片、砷化鎵（GaAs）、氮化鎵（GaN）晶圓
3.涂層材料：防腐涂層（環(huán)氧樹脂）、導(dǎo)電涂層（ITO薄膜）
4.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）、金屬基復(fù)合材料
5.生物醫(yī)用材料：鈦合金植入體、醫(yī)用不銹鋼器械

檢測(cè)方法

1.ASTMG5-14：動(dòng)電位極化曲線測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
2.ISO17475:2005：電化學(xué)阻抗譜（EIS）分析方法
3.GB/T17899-1999：不銹鋼點(diǎn)蝕電位測(cè)量規(guī)范
4.ASTMB117-19：鹽霧環(huán)境下膜層耐蝕性測(cè)試
5.GB/T3138-2015：金屬覆蓋層孔隙率電化學(xué)檢測(cè)法

檢測(cè)設(shè)備

1.PrincetonAppliedResearchVersaSTAT4：多通道電化學(xué)工作站，支持EIS和極化測(cè)試
2.GamryReference600+：高精度恒電位儀，分辨率0.1fA
3.SolartronAnalytical1287A：寬頻阻抗分析儀，頻率范圍10μHz-32MHz
4.Bio-LogicSP-300：多頻EIS系統(tǒng)，支持高溫高壓環(huán)境測(cè)試
5.ZahnerZenniumPro：光電壓耦合電化學(xué)分析平臺(tái)
6.MetrohmAutolabPGSTAT204：集成式電化學(xué)工作站，支持多電極體系
7.KeysightB2900A：精密源表模塊化系統(tǒng)，電流分辨率0.1pA
8.HIOKIIM3590：化學(xué)阻抗分析儀，基本精度0.05%
9.CorrTestCS350：腐蝕電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，內(nèi)置鹽霧模擬模塊
10.AMETEKPARSTAT4000A：全自動(dòng)多任務(wù)電化學(xué)測(cè)試平臺(tái)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)