參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.結(jié)構(gòu)表征：通過(guò)X射線衍射（XRD）測(cè)定晶型參數(shù)（2θ范圍5-80，掃描速率4/min）
2.元素定量分析：采用ICP-OES測(cè)定金屬元素含量（檢出限0.01-100ppm）
3.熱穩(wěn)定性測(cè)試：TGA分析失重曲線（溫度范圍25-800℃，升溫速率10℃/min）
4.官能團(tuán)鑒定：FTIR光譜掃描（波數(shù)范圍4000-400cm?，分辨率4cm?）
5.表面形貌觀測(cè)：SEM成像分析（加速電壓5-30kV，放大倍數(shù)100x-100,000x）

檢測(cè)范圍

1.高分子材料中的交聯(lián)劑加成產(chǎn)物
2.藥物合成中間體的立體異構(gòu)體
3.金屬有機(jī)框架材料（MOFs）配位化合物
4.電子封裝用環(huán)氧樹脂固化體系
5.催化劑前驅(qū)體絡(luò)合物

檢測(cè)方法

1.ASTME1252-23紅外光譜法定性分析有機(jī)官能團(tuán)
2.ISO14707:2021輝光放電光譜法測(cè)定表面元素分布
3.GB/T23413-2009納米材料X射線衍射分析方法
4.GB/T223.5-2008鋼鐵及合金化學(xué)分析方法（ICP法）
5.ISO11358-1:2022塑料聚合物熱重分析法（TGA）通則

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificNicoletiS20FTIR光譜儀（中紅外區(qū)分子振動(dòng)分析）
2.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)解析精度0.0001）
3.PerkinElmerNexION350DICP-MS（多元素同步檢測(cè)能力）
4.HitachiSU8010場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（二次電子分辨率1.0nm@15kV）
5.MettlerToledoTGA/DSC3+同步熱分析儀（溫度精度0.1℃）
6.Agilent7890B氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（揮發(fā)性成分分離鑒定）
7.MalvernZetasizerNanoZSP動(dòng)態(tài)光散射儀（納米顆粒粒徑分布測(cè)定）
8.ShimadzuUV-2600i分光光度計(jì)（紫外可見吸收光譜掃描）
9.NetzschSTA449F5Jupiter同步熱分析儀（最高溫度1600℃）
10.JEOLJEM-2100F透射電子顯微鏡（點(diǎn)分辨率0.19nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)