粒子圖表檢測摘要:檢測項目1.粒徑分布:D10(1-100μm)、D50(5-500μm)、D90(10-1000μm)三值分布曲線2.形狀系數:圓形度(0.7-1.0)、長徑比(1.0-5.0)、球形度(0.6-1.0)3.表面粗糙度:Ra值(0.01-2.5μm)、Rz值(0.05-10μm)4.孔隙率:開孔率(5-95%)、閉孔率(0.5-30%)5.Zeta電位:60mV范圍內表面電荷分布檢測范圍1.金屬粉末:鈦合金/鋁合金/銅基粉末冶金材料2.陶瓷顆粒:氧化鋁/碳化硅/氮化硼結構陶瓷3.高分子材料:聚乙烯/聚丙烯
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1.粒徑分布:D10(1-100μm)、D50(5-500μm)、D90(10-1000μm)三值分布曲線
2.形狀系數:圓形度(0.7-1.0)、長徑比(1.0-5.0)、球形度(0.6-1.0)
3.表面粗糙度:Ra值(0.01-2.5μm)、Rz值(0.05-10μm)
4.孔隙率:開孔率(5-95%)、閉孔率(0.5-30%)
5.Zeta電位:60mV范圍內表面電荷分布
1.金屬粉末:鈦合金/鋁合金/銅基粉末冶金材料
2.陶瓷顆粒:氧化鋁/碳化硅/氮化硼結構陶瓷
3.高分子材料:聚乙烯/聚丙烯/聚酰胺工程塑料粒子
4.藥品顆粒:片劑崩解顆粒/緩釋微球/吸入粉霧劑
5.納米材料:碳納米管/量子點/金屬氧化物納米顆粒
ASTMB822-20《金屬粉末粒度分布標準測試方法》
ISO13322-1:2014《粒度分析圖像法第1部分:靜態(tài)圖像分析》
GB/T19077-2016《粒度分布激光衍射法》
ISO9277:2010《BET法測定固態(tài)物質比表面積》
GB/T19627-2005《粒度分析光子相關光譜法》
1.MalvernMastersizer3000激光粒度儀:測量范圍0.01-3500μm
2.MicromeriticsTriStarII3020比表面分析儀:孔徑分析0.35-500nm
3.HitachiSU3500掃描電鏡:分辨率3nm@30kV
4.BeckmanCoulterDelsaMaxProZeta電位儀:測量范圍500mV
5.OlympusDSX1000數碼顯微鏡:20-7000倍連續(xù)變倍
6.HoribaParticaLA-960V2激光散射儀:干濕法雙模式測量
7.AntonPaarLitesizer500納米粒度儀:動態(tài)光散射技術
8.KeyenceVHX-7000三維形貌分析系統(tǒng):景深擴展顯微技術
9.SympatecHELOS/KR動態(tài)圖像分析儀:在線粒徑監(jiān)測系統(tǒng)
10.ShimadzuSALD-7500nano納米粒度儀:紫外激光光源
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析粒子圖表檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師