參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.顆粒物殘留量：粒徑范圍0.1-500μm，密度閾值≤5particles/cm（SEM成像分析）

2.有機污染物濃度：碳氫化合物含量≤50μg/cm（FTIR光譜法）

3.離子污染度：Na+/K+/Cl-總量≤1.56μg/cm（離子色譜法）

4.微生物負載量：菌落總數(shù)≤100CFU/25cm（ATP生物熒光法）

5.表面能變化：接觸角偏差≤5（動態(tài)潤濕角測試）

檢測范圍

1.金屬材料：航空鋁合金/鈦合金表面氧化層潔凈度評估

2.電子元件：PCB板焊盤離子殘留與助焊劑結(jié)晶分析

3.醫(yī)療器械：植入物表面蛋白質(zhì)吸附量測定

4.光學(xué)元件：鏡片鍍膜層微粒污染度檢驗

5.包裝材料：藥品鋁箔內(nèi)壁有機物遷移量測試

檢測方法

ASTMF312-08《金屬表面微粒污染測試規(guī)程》

ISO16232-2018《道路車輛-流體系統(tǒng)部件清潔度》

GB/T34896-2017《微電子器件表面潔凈度分級》

ASTME1216-11《表面污染物取樣規(guī)程》

GB/T38261-2019《納米材料表面污染物測定方法》

檢測設(shè)備

FEIQuanta650FEG場發(fā)射掃描電鏡：實現(xiàn)0.8nm分辨率微粒形貌分析

ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀：有機污染物指紋圖譜庫比對

Metrohm930CompactICFlex離子色譜儀：ppb級陰/陽離子同步檢測

KLATencorP-17表面輪廓儀：三維污染物高度分布測繪

PallGeneDisc微生物快速檢測系統(tǒng)：25分鐘完成生物負載定量

KrssDSA100E動態(tài)接觸角測量儀：表面能變化實時監(jiān)測系統(tǒng)

ParticleMeasuringSystemsLS-C液體顆粒計數(shù)器：0.1μm粒徑分級統(tǒng)計

OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡：亞微米級污染物三維重構(gòu)

SartoriusCPA225D精密天平：μg級污染物質(zhì)量測定模塊

PerkinElmerNexION350DICP-MS：金屬元素痕量分析系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)