參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.相變溫度范圍：測(cè)定材料亞穩(wěn)態(tài)向穩(wěn)定態(tài)轉(zhuǎn)變的臨界溫度區(qū)間（200-1200℃）
2.分解速率常數(shù)：量化單位時(shí)間內(nèi)的相變比例（10^-6-10^-2s^-1）
3.晶格畸變量：測(cè)量晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)變化（Δa/a₀≤0.15）
4.元素偏析度：分析主元素濃度梯度（5at.%）
5.殘余應(yīng)力分布：表征微觀應(yīng)力場(chǎng)強(qiáng)度（0-500MPa）

檢測(cè)范圍

1.金屬基高溫合金：鎳基/鈷基超合金葉片材料
2.陶瓷復(fù)合材料：ZrO₂-Y₂O₃熱障涂層體系
3.形狀記憶合金：Ti-Ni基智能材料
4.非晶合金：Fe-Si-B系軟磁材料
5.功能梯度材料：Al₂O₃/TiC切削刀具涂層

檢測(cè)方法

1.ASTME1269-11：差示掃描量熱法測(cè)定相變焓
2.ISO11357-3:2018：動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析評(píng)估粘彈性響應(yīng)
3.GB/T13303-91：鋼的過冷奧氏體轉(zhuǎn)變曲線測(cè)定方法
4.ASTME384-22：顯微硬度法測(cè)定局部相變程度
5.GB/T4334-2020：金屬材料高溫持久試驗(yàn)規(guī)范
6.ISO17405:2014：電子背散射衍射晶體學(xué)分析

檢測(cè)設(shè)備

1.差示掃描量熱儀DSC214Polyma：溫度分辨率0.1℃，量熱精度1μW
2.高溫X射線衍射儀X'Pert3Powder：最高溫度1600℃，角度重復(fù)性0.0001
3.場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU5000：分辨率1nm，配備EBSD及EDS聯(lián)用系統(tǒng)
4.激光閃射法導(dǎo)熱儀LFA467HyperFlash：測(cè)試范圍-120~2800℃，升溫速率500℃/s
5.動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀DMA850：頻率范圍0.01~200Hz，力分辨率0.0001N
6.聚焦離子束系統(tǒng)HeliosG4UX：加工精度5nm，集成TOF-SIMS模塊
7.高溫共聚焦顯微鏡VL2000DX-SVF17SP：最大放大倍率15000，控溫精度1℃
8.原子探針層析儀LEAP5000XR：空間分辨率0.3nm，質(zhì)量分辨率m/Δm≥1000
9.同步熱分析儀STA449F5Jupiter：TG-DSC同步測(cè)量精度0.1μg
10.殘余應(yīng)力分析儀XStressG3：測(cè)量深度0-50μm，精度20MPa

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)