參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸偏差：測(cè)量實(shí)際尺寸與設(shè)計(jì)值的差異范圍（0.1mm~0.5mm）

2.平面度誤差：采用激光干涉儀測(cè)定平面波動(dòng)值（≤0.02mm/m）

3.角度公差：通過(guò)數(shù)字測(cè)角儀驗(yàn)證夾角精度（0.5）

4.圓度/圓柱度：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)評(píng)估旋轉(zhuǎn)體輪廓偏差（≤IT7級(jí)）

5.表面粗糙度：觸針式輪廓儀檢測(cè)Ra值（0.4μm~3.2μm）

檢測(cè)范圍

1.金屬精密零件：包括CNC加工件、壓鑄成型件等

2.工程塑料制品：涵蓋注塑齒輪、結(jié)構(gòu)支架等功能性組件

3.陶瓷基復(fù)合材料：適用于高溫工況下的特種部件

4.光學(xué)玻璃元件：鏡片、棱鏡等光學(xué)器件的幾何參數(shù)

5.3D打印成型件：金屬/非金屬增材制造件的尺寸驗(yàn)證

檢測(cè)方法

1.ASTME2938-15：基于數(shù)字成像的幾何量測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)方法

2.ISO1101:2017：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)

3.GB/T1958-2017：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定

4.ISO10360-2:2009：坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)驗(yàn)收與復(fù)檢標(biāo)準(zhǔn)

5.GB/T6060.3-2008：表面粗糙度比較樣塊校準(zhǔn)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間尺寸測(cè)量精度1.5μm+L/250μm

2.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：觸針半徑2μm，測(cè)量速度0.25mm/s

3.KeyenceIM-8000系列影像測(cè)量系統(tǒng)：雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)，重復(fù)精度0.8μm

4.ZygoVerifireMST激光干涉儀：平面度測(cè)量分辨率達(dá)0.001μm

5.MahrFederalMillimarC1216數(shù)顯測(cè)高儀：量程0-1000mm，分辨率0.001mm

6.RenishawXL-80激光跟蹤儀：動(dòng)態(tài)測(cè)量精度15μm+6μm/m

7.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：徑向測(cè)量精度0.01μm

8.OGPSmartScopeFlash500多傳感器系統(tǒng)：集成光學(xué)/激光/觸覺(jué)探測(cè)模塊

9.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測(cè)量機(jī)：CT/MRT復(fù)合掃描功能

10.NikonNEXIVVM-450影像儀：20倍電動(dòng)變倍鏡頭，XY軸精度(2.5+4L/1000)μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)