參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.化學(xué)成分分析：K?O（10.0-14.5%）、Al?O?（18.0-20.5%）、SiO?（64.0-67.5%）含量測定
2.晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)：三斜晶系a軸（8.56-8.59）、b軸（12.96-12.99）、c軸（7.21-7.23）測量
3.有序度指數(shù)：Al/Si占位率（0.75-1.00）與T1o位Al含量（≥25%）測定
4.熱膨脹系數(shù)：20-800℃區(qū)間α值（6.5-8.010??/℃）測試
5.莫氏硬度：6.0-6.5級劃痕試驗
6.密度測定：2.54-2.57g/cm范圍驗證

檢測范圍

1.花崗巖類建筑材料
2.陶瓷工業(yè)用高嶺土原料
3.地質(zhì)勘探巖芯樣品
4.玻璃制造用長石精礦
5.考古文物礦物標(biāo)本
6.工業(yè)催化劑載體材料

檢測方法

1.X射線熒光光譜法（GB/T14506.28-2010）測定主量元素
2.Rietveld全譜擬合（ISO22278:2020）解析晶體結(jié)構(gòu)
3.差示掃描量熱法（ASTME1269-11）測定相變溫度
4.電子背散射衍射（GB/T39488-2020）分析晶格取向
5.紅外光譜法（GB/T6040-2019）識別結(jié)構(gòu)羥基
6.激光粒度分析（ISO13320:2020）測定粉末樣品粒徑分布

檢測設(shè)備

1.RigakuZSXPrimusIIIX射線熒光光譜儀：波長色散型，檢出限0.01%
2.BrukerD8AdvanceX射線衍射儀：Cu靶Kα輻射，角度精度0.0001
3.ShimadzuEPMA-1720H電子探針：空間分辨率1μm，元素分析范圍B-U
4.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：溫度范圍RT-1600℃，升溫速率0.1-50K/min
5.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm
6.PerkinElmerSpectrumTwoFT-IR光譜儀：波數(shù)范圍4000-400cm?，分辨率4cm?
7.ZeissEVOMA15掃描電鏡：二次電子分辨率3nm，配備EDS能譜系統(tǒng)
8.AntonPaarXRDynamic500高溫衍射儀：最高溫度1600℃，氣氛可控
9.Agilent7900ICP-MS：檢出限ppt級，質(zhì)量數(shù)范圍6-260amu
10.MitutoyoHM-124硬度計：載荷范圍10-1000gf，讀數(shù)精度1%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)