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補(bǔ)償磁盤(pán)檢測(cè)

2025-05-21 關(guān)鍵詞:補(bǔ)償磁盤(pán)測(cè)試方法,補(bǔ)償磁盤(pán)測(cè)試案例,補(bǔ)償磁盤(pán)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
補(bǔ)償磁盤(pán)檢測(cè)

補(bǔ)償磁盤(pán)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.尺寸精度:平面度誤差≤0.02mm/100mm;同軸度公差0.005mm;厚度偏差0.003mm2.表面質(zhì)量:粗糙度Ra≤0.8μm;劃痕深度<5μm;鍍層厚度202μm3.力學(xué)性能:維氏硬度HV≥650;抗拉強(qiáng)度≥850MPa;疲勞壽命>110?次4.磁學(xué)特性:剩磁Br≥1.15T;矯頑力Hc≥12kOe;最大磁能積(BH)max≥30MGOe5.動(dòng)態(tài)特性:動(dòng)平衡等級(jí)G2.5;轉(zhuǎn)速波動(dòng)率<0.03%;溫升ΔT≤45℃@6000rpm檢測(cè)范圍1.不銹鋼基補(bǔ)償磁盤(pán)(06Cr19Ni10/316L

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸精度:平面度誤差≤0.02mm/100mm;同軸度公差0.005mm;厚度偏差0.003mm
2.表面質(zhì)量:粗糙度Ra≤0.8μm;劃痕深度<5μm;鍍層厚度202μm
3.力學(xué)性能:維氏硬度HV≥650;抗拉強(qiáng)度≥850MPa;疲勞壽命>110?次
4.磁學(xué)特性:剩磁Br≥1.15T;矯頑力Hc≥12kOe;最大磁能積(BH)max≥30MGOe
5.動(dòng)態(tài)特性:動(dòng)平衡等級(jí)G2.5;轉(zhuǎn)速波動(dòng)率<0.03%;溫升ΔT≤45℃@6000rpm

檢測(cè)范圍

1.不銹鋼基補(bǔ)償磁盤(pán)(06Cr19Ni10/316L)
2.鋁合金梯度復(fù)合補(bǔ)償盤(pán)(AlSi10Mg+SiC)
3.鈦合金精密補(bǔ)償環(huán)(TC4/TA15)
4.陶瓷涂層補(bǔ)償片(Al?O?-TiO?/ZrO?)
5.高分子基自潤(rùn)滑補(bǔ)償墊(PTFE-PEEK復(fù)合材料)

檢測(cè)方法

1.ASTME18-22《金屬材料洛氏硬度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
2.ISO12181-2:2021《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS)圓度測(cè)量》
3.GB/T1800.1-2020《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)線(xiàn)性尺寸公差》
4.IEC60404-5:2015《磁性材料測(cè)量方法》
5.GB/T9239.1-2021《機(jī)械振動(dòng)恒態(tài)轉(zhuǎn)子平衡品質(zhì)要求》
6.ASTMB499-09(2020)《磁性材料矯頑力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(分辨率0.1μm)
2.TaylorHobsonFormTalysurfi120輪廓儀(Ra測(cè)量范圍0.01-50μm)
3.ZwickRoellZHU250液壓萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)(載荷250kN/精度0.5%)
4.LakeShore480型振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(磁場(chǎng)范圍3T/靈敏度10??emu)
5.SCHENCKH450動(dòng)平衡測(cè)試系統(tǒng)(轉(zhuǎn)速范圍50-15000rpm)
6.FLIRA655sc紅外熱像儀(熱靈敏度<30mK@30Hz)
7.OlympusOmniscanMX2超聲探傷儀(頻率范圍0.5-30MHz)
8.BrukerD8ADVANCEX射線(xiàn)衍射儀(角度重復(fù)性0.0001)
9.KEYENCEVHX-7000數(shù)字顯微鏡(5000倍光學(xué)放大)
10.InstronCEAST9340沖擊試驗(yàn)機(jī)(能量范圍0.5-50J)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng):中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析補(bǔ)償磁盤(pán)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢(xún)?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)工程師

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