參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.點(diǎn)陣尺寸精度：測量菱形對角線長度誤差范圍（0.02mm），符合GB/T1800.2-2020公差等級IT6標(biāo)準(zhǔn)
2.角度對稱性：主對角線與副對角線夾角偏差≤0.5，參照ISO2768-1:1989通用公差規(guī)范
3.間距均勻度：相鄰點(diǎn)陣中心距波動值≤15μm（ASTME112-13晶粒度測定法）
4.表面粗糙度：Ra值控制在0.4-0.8μm（ISO4287:1997輪廓法評定標(biāo)準(zhǔn)）
5.材料硬度：維氏硬度HV≥600（GB/T4340.1-2009金屬材料試驗(yàn)規(guī)程）

檢測范圍

1.金屬合金精密沖壓件（航空航天發(fā)動機(jī)葉片定位結(jié)構(gòu)）
2.高分子復(fù)合材料膜層（柔性電路板導(dǎo)電網(wǎng)格）
3.陶瓷基高溫涂層（燃?xì)廨啓C(jī)熱障涂層散熱單元）
4.光學(xué)衍射元件（激光投影儀微結(jié)構(gòu)導(dǎo)光板）
5.半導(dǎo)體晶圓蝕刻圖案（MEMS傳感器電極陣列）

檢測方法

1.非接觸式光學(xué)測量：采用ISO25178-2:2012標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行三維形貌重建
2.X射線衍射分析：依據(jù)ASTME915-19測定殘余應(yīng)力分布
3.掃描電鏡觀測：執(zhí)行GB/T27788-2020微區(qū)成分能譜分析
4.白光干涉儀檢測：參照ISO14978:2018表面粗糙度多參數(shù)評價
5.數(shù)字圖像相關(guān)法：按GB/T34879-2017實(shí)現(xiàn)全場應(yīng)變測量

檢測設(shè)備

1.HexagonOptivPerformance432三坐標(biāo)測量機(jī)：配備5MP雙鏡頭系統(tǒng)，重復(fù)定位精度0.6μm
2.KeyenceVK-X3000激光掃描顯微鏡：支持150nm分辨率三維形貌分析
3.ZygoNewView9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm，符合ISO25178標(biāo)準(zhǔn)
4.InstronE10000電子萬能試驗(yàn)機(jī)：載荷精度0.5%，滿足ASTME8/E8M-21要求
5.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：配備Euleriancradle測角儀，角度分辨率0.0001
6.MitutoyoSJ-410表面輪廓儀：觸針半徑2μm，符合JISB0651-2001規(guī)范
7.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡：20X-7000X連續(xù)變倍光學(xué)系統(tǒng)
8.ShimadzuHMV-G21ST顯微硬度計：載荷范圍10gf-2kgf，符合ISO6507標(biāo)準(zhǔn)
9.GOMARAMIS12M三維數(shù)字散斑系統(tǒng)：采樣頻率100Hz，應(yīng)變測量精度0.005%
10.ThermoScientificPrismaESEM掃描電鏡：配備EDS能譜儀，空間分辨率1nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)