參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.傳輸延遲時間：測量輸入信號到輸出響應(yīng)的延遲時間（典型值1-10ns），包括上升沿(t_PLH)與下降沿(t_PHL)差異
2.靜態(tài)功耗電流：待機(jī)狀態(tài)下漏電流測試（精度0.1μA），工作電壓范圍3.3V/5V/12V
3.輸入電壓閾值：高電平識別閾值V_IH（≥2.0V）與低電平閾值V_IL（≤0.8V）
4.輸出驅(qū)動能力：最大灌電流I_OL（≥8mA）與拉電流I_OH（≥-8mA）
5.溫度特性驗證：工作溫度范圍-40℃~125℃下的功能穩(wěn)定性測試

檢測范圍

1.CMOS工藝數(shù)字集成電路：74HC/HCT系列移位寄存器
2.FPGA可編程邏輯器件：XilinxSpartan-6系列IOB單元
3.汽車電子控制模塊：CAN總線信號處理電路
4.工業(yè)PLC接口電路：RS-485差分信號轉(zhuǎn)換模塊
5.消費電子產(chǎn)品：TFT-LCD驅(qū)動時序控制芯片

檢測方法

1.邏輯功能驗證：依據(jù)GB/T17574-2021《半導(dǎo)體器件集成電路第2-11部分》進(jìn)行真值表比對
2.時序特性分析：采用ISO11452-4:2020規(guī)定的眼圖測試法評估信號完整性
3.功耗測試：執(zhí)行IEC62321-2013第5章直流參數(shù)測量規(guī)范
4.ESD抗擾度測試：參照ANSI/ESDA/JEDECJS-001-2017HBM模型標(biāo)準(zhǔn)
5.環(huán)境可靠性試驗：按GB/T2423.22-2012進(jìn)行溫度循環(huán)（100次循環(huán)）測試

檢測設(shè)備

1.KeysightDSOX1204G示波器：4通道8GHz帶寬，支持眼圖模板分析
2.TektronixAFG31000信號發(fā)生器：250MHz方波輸出，抖動＜1psRMS
3.Chroma6310A直流電源：0-30V/0-10A輸出，電流精度0.05%
4.AdvantestT2000測試系統(tǒng)：支持1024通道并行邏輯測試
5.ThermoStreamT-2600溫控箱：-65℃~+150℃快速溫變（30℃/min）
6.Keithley2636B源表：四象限工作模式，最小分辨率10fA
7.EMTESTUCS500N靜電槍：接觸放電30kV,空氣放電32kV
8.AgilentN6705B模塊電源：四路獨立輸出，動態(tài)響應(yīng)時間＜50μs
9.Fluke8846A數(shù)字萬用表：6位分辨率,基本DCV精度0.0024%
10.XJTAG邊界掃描儀：支持IEEE1149.1/1149.6協(xié)議驗證

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)