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旋卷構(gòu)造檢測(cè)

2025-05-21 關(guān)鍵詞:旋卷構(gòu)造測(cè)試案例,旋卷構(gòu)造測(cè)試儀器,旋卷構(gòu)造測(cè)試方法 相關(guān):
旋卷構(gòu)造檢測(cè)

旋卷構(gòu)造檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.幾何尺寸精度:測(cè)量螺旋升角(0.5)、螺距公差(0.02mm)、外徑橢圓度(≤0.05mm)2.表面粗糙度:輪廓算術(shù)平均偏差Ra值(0.4-3.2μm),波紋度Wz參數(shù)(≤10μm)3.材料力學(xué)性能:抗拉強(qiáng)度(≥800MPa)、屈服強(qiáng)度比(0.85-0.95)、延伸率(≥12%)4.殘余應(yīng)力分布:表層壓應(yīng)力深度(50-200μm),X射線衍射法測(cè)量應(yīng)力梯度(50MPa/mm)5.微觀組織分析:晶粒度等級(jí)(ASTM8-12級(jí)),碳化物分布密度(5-15個(gè)/μm)檢測(cè)范圍1.金屬合金旋卷件:鈦合金

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.幾何尺寸精度:測(cè)量螺旋升角(0.5)、螺距公差(0.02mm)、外徑橢圓度(≤0.05mm)
2.表面粗糙度:輪廓算術(shù)平均偏差Ra值(0.4-3.2μm),波紋度Wz參數(shù)(≤10μm)
3.材料力學(xué)性能:抗拉強(qiáng)度(≥800MPa)、屈服強(qiáng)度比(0.85-0.95)、延伸率(≥12%)
4.殘余應(yīng)力分布:表層壓應(yīng)力深度(50-200μm),X射線衍射法測(cè)量應(yīng)力梯度(50MPa/mm)
5.微觀組織分析:晶粒度等級(jí)(ASTM8-12級(jí)),碳化物分布密度(5-15個(gè)/μm)

檢測(cè)范圍

1.金屬合金旋卷件:鈦合金航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、不銹鋼彈簧墊圈
2.復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件:碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)傳動(dòng)軸
3.精密彈簧元件:汽車懸架螺旋彈簧、鐘表游絲
4.傳動(dòng)軸類零件:機(jī)床滾珠絲杠、液壓旋轉(zhuǎn)接頭
5.高溫合金部件:燃?xì)廨啓C(jī)渦輪盤、核反應(yīng)堆冷卻管

檢測(cè)方法

1.ASTME3-11:金相試樣制備與顯微組織定量分析
2.ISO12107:2012:金屬材料疲勞試驗(yàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理方法
3.GB/T228.1-2021:金屬材料拉伸試驗(yàn)室溫試驗(yàn)方法
4.ASTME837-20:鉆孔法測(cè)定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
5.GB/T10610-2009:產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法評(píng)定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法

檢測(cè)設(shè)備

1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(HexagonGlobalClassic07.10.07):空間尺寸精度1.5μm+L/250μm
2.表面粗糙度儀(MitutoyoSJ-410):測(cè)量范圍Ra0.05-10μm,16nm分辨率
3.電子萬能試驗(yàn)機(jī)(Instron5985):最大載荷250kN,應(yīng)變速率控制精度0.5%
4.X射線應(yīng)力分析儀(Pulstecμ-X360s):ψ角掃描范圍45,應(yīng)力分辨率2MPa
5.金相顯微鏡(ZeissAxioImager.M2m):最大放大倍數(shù)1500X,帶EBSD電子背散射衍射模塊
6.旋轉(zhuǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)機(jī)(RumulTestronic250kN):頻率范圍50-300Hz,溫度控制1℃
7.激光掃描共焦顯微鏡(OlympusLEXTOLS5000):Z軸分辨率0.01nm,三維形貌重建
8.超聲波探傷儀(OlympusEPOCH650):頻率范圍0.5-30MHz,缺陷檢出率≥Φ0.3mm
9.熱膨脹系數(shù)測(cè)定儀(NetzschDIL402ExpedisClassic):溫度范圍-160℃至2000℃
10.能譜分析儀(OxfordInstrumentsX-MaxN80):元素檢測(cè)范圍B-U,能量分辨率127eV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析旋卷構(gòu)造檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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