參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.空間分辨率：測(cè)量系統(tǒng)分辨細(xì)微結(jié)構(gòu)能力（≥5.0lp/mm）
2.密度分辨率：識(shí)別最小密度差異（ΔD≥0.02）
3.幾何畸變率：評(píng)估圖像形變程度（≤1.5%）
4.信噪比（SNR）：量化有效信號(hào)與噪聲比值（≥45dB）
5.動(dòng)態(tài)范圍：測(cè)定系統(tǒng)可記錄的最大密度差（≥3.6OD）

檢測(cè)范圍

1.醫(yī)用X光膠片及CR/DR成像板
2.工業(yè)無(wú)損檢測(cè)用射線膠片
3.數(shù)字平板探測(cè)器（非晶硅/非晶硒型）
4.醫(yī)學(xué)影像打印機(jī)及干式膠片
5.航天遙感CCD/CMOS傳感器組件

檢測(cè)方法

1.ASTME1815-18射線成像系統(tǒng)空間分辨率測(cè)試
2.ISO9236-1:2022醫(yī)用X光膠片感光特性測(cè)定
3.GB/T21355-2022無(wú)損檢測(cè)射線照相系統(tǒng)分類標(biāo)準(zhǔn)
4.IEC62220-1:2021數(shù)字X射線成像裝置特性評(píng)價(jià)
5.GB/T18989-2013X射線計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置圖像質(zhì)量評(píng)價(jià)

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線成像測(cè)試卡Model76（TRI-VIEW）：空間分辨率/對(duì)比靈敏度測(cè)試
2.密度計(jì)ModelTD-210（KonicaMinolta）：光學(xué)密度測(cè)量精度0.02D
3.線對(duì)卡ISO-19232-1TypeR6：符合EN462-1標(biāo)準(zhǔn)的幾何分辨率測(cè)試
4.數(shù)字圖像分析軟件ImageJv1.53q：支持DICOM文件SNR/MTF分析
5.X光機(jī)校準(zhǔn)裝置PXi300（Fluke）：管電壓精度0.5kV
6.暗室安全燈測(cè)試儀LX-1028（SPI）：照度測(cè)量范圍0-2000lux
7.CT性能模體Catphan600：層厚/均勻性/CT值線性驗(yàn)證
8.輻射劑量?jī)xUnforsXi（RaySafe）：劑量率測(cè)量范圍0.1μSv/h-10Sv/h
9.溫濕度記錄儀TR72Ui（T&D）：環(huán)境監(jiān)控精度0.3℃/3%RH
10.激光打印機(jī)密度校準(zhǔn)板SMPTERP133：灰階密度階躍測(cè)試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)